HD Prime有害物质分析仪
名称：物性分析测试仪器
品牌：
型号：
简介：HD Prime 用XOS 特有的高清晰光谱技术，测量玩具和儿童用品 中的铅以及其他有毒元素，可测出微量成份。HD Prime分析仪采用先 进的光学分析技术，可分别测出产品基材和涂层中有毒元素的成份。这种分析技术可测量目前和将来由CPSIA...
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- 产品介绍
HD Prime 用XOS 特有的高清晰光谱技术，测量玩具和儿童用品 中的铅以及其他有毒元素，可测出微量成份。HD Prime分析仪采用先 进的光学分析技术，可分别测出产品基材和涂层中有毒元素的成份。这种分析技术可测量目前和将来由CPSIA规定的含量极限。HD Prime分析仪有用户满意的界面，既能快速定性检测，又能精确定量分析，性能价格比高。测量是非破坏性的，不需要费钱耗时的样品准备，从而不会损坏被测商品，已备复查。高清晰光谱仪使负责产品安全的行业和政府管理部门能够快
速，准确，方便地检测产品。用于玩具和儿童用品
HD Prime应用领域
• 玩具和儿童用品中多种有毒元素测量，符合CPSIA规定的要求
• 快速准确地定性定量分析有毒元素
• 使用场合：工厂的生产线上和实验室，第三方检测实验室，零售商，检测部门
• 符合ASTM F2853 和 F2617标准性能和特点
• 测定10大有毒元素(Pb, Sb, As, Ba, Cd,Cr, Hg, Se, Br, and Cl).
• HD Prime可分别测出产品基材和涂层 中有毒元素的成份
• 1 mm小面积分析，能检测不规则形 状
• 使用方便，可供工厂，实验室使 用，2小时培训
• 不需要样品准备: 无须剥离和浸煮涂层，从而不破坏产品结构
• 定性检测模式：提供有毒元素快速检测
• 定量检测模式:精确地确定涂层和
better analysis counts
HDPrime 分析仪检测铅和其他有毒元素
* 较长的测量时间
最佳的选择
HDXRF 内部高清晰光谱技术是一种元素分析技术，它用XOS专利产品双弯晶面（DCC）反射镜确保了测量的精确性和准确性。多个DCC透镜截获来自X光管的X白光束，并选定几个不同能量的光束，聚焦成很强的束斑，打在被测产品表面。HD光谱分析仪可从低能到高能范围内选择单色激发束，使用户能分别定量分析涂层和基底内有毒元素的成份。HD光谱分析仪采用单色激发束可消除荧光峰下的散射背景噪声，从而大大改善元素探测极限。由于这种技术采用聚焦束激发样品，对于直径为１mm的样品分析面积，其灵敏度远高于采用准直器来减小束斑的分析仪的灵敏度。示意图展示了用于玩具和儿童用品中有毒元素检测的HD光谱分析仪的基本结构。双向弯晶DCC)
反射镜和不同能量的光束可降低背景噪声，把涂层成分从基底材料中分离出来
LOD in ppm– Pb Cd Cr As Br Sb Se Hg Ba Cl
塑料基底.8 2 2 .8 1 5 1 1 100 100*
PVC基底1 2 5 1 1 5 1 2 100 N/A
塑料上涂层5 25* 15 5 5 50* 5 8 200 150*
金属基底10 5 15 8 N/A 10 5 10 200 N/A
金属上涂层8 15* 15 8 5 25* 5 10 200 150*
探测极限
HD Prime 适用于测量不同的样品，可从大的玩具到小的珠宝。
用户界面和数据管理
• 彩色指示框分别显示产品基底和涂层中测量结果是通过还是没通过
• 被测元素的成份表示为ppm和ug/cm2两种单位
• 每次测量的荧光谱被记录并可调出分析
• 每次被测样品和测试面积的两个数码图像被储存
• 所有检测结果被记录，无法篡改
• 数据输出可用电子文件或直接打印，LIMS兼容
• 分析仪操作用用户很熟悉的鼠标操作
• 大样品室方便测量大的和不规 则形状的产品
• 接通电源即可测量：不需要特 殊供应设备
• 两个摄像头分别摄下玩具和分 析表面的图像
• 激光束可准确对准被测面积
• 方便调节测量头的方向
• 自动连锁样品室的门以确保安 全操作控制盒和计算机测量头显示器键盘和鼠标
better analysis counts
产品规格元素Pb, Sb, As, Ba, Cd, Cr, Hg, Se, Br, Cl
分析范围小于5000 ppm
分析模型定性模式：快速检测元素的存在定量模式: 精确准确地确定元素成份
一次测量可同时得到涂层和基底中的元素成份并分别记录
定性测量时间基底是~1min
基底和涂层涂层是~2min
定量测量时间塑料，木头，橡胶，皮革，织物，湿涂料为~2min
只测基底金属为~3min
定量测量时间~5min
涂层
测量面积直径 1mm
环境温度5¬35o C
相对湿度80% max.
功率要求90 ¬264 VAC, 47¬63 Hz
光管电压50kV max
系统功耗200 W max
结构分析仪尺寸H: 812 mm. W: 914 mm. D: 660mm (32”x36”x26”)
样品室尺寸H: 560 mm W: 851 mm. D: 582 mm (22” x 33.5” x 23”
分析仪重量110 kg (240 lbs)
数据输出硬盘储存
为LIMS连接USB输出接口
摄像头一个摄像头: 样品的大视角成像
另一摄像头: 分析面积的近视角成像
操作系统视窗系统
探测面积选择激光对中
用户界面材料选择塑料，金属，木头，玻璃, 橡胶，皮革，织物
量化:测试结果基底中的成份单位是ppm (wt.).，用颜色块表示通过没通过
涂层中的成份单位是ppm (wt.) 和ug/cm2.，也用颜色块表示通过没通过
包含光谱分析
定性:测试结果颜色块表示通过没通过
用户输入操作员名字和样品细节用户, 样品定义和描述
数码成像每次测量都储存样品和被测面积的图像
校准自动校准程序
美国XOS华南区代理湖南艾克塞普仪器设备有限公司
