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牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器C-Nano

产品简介:

牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器C-Nano是一种多功能、高效的EBSD探测器。利用Symmetry探测器的创新技术,为C-Nano这一入门级探测器提供了出色的性能。C-Nano适用于表征各种类型的样品,它的高像素分辨率使其非常适合于精细的应变分析以及复杂和具有挑战性材料...

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详细介绍
牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器C-Nano是一种多功能、高效的EBSD探测器。利用Symmetry探测器的创新技术,为C-Nano这一入门级探测器提供了出色的性能。C-Nano适用于表征各种类型的样品,它的高像素分辨率使其非常适合于精细的应变分析以及复杂和具有挑战性材料的常规分析。

牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器C-Nano是一款适用于各种材料和应用的EBSD探测器。利用专门定制的CMOS传感器,C-Nano最高采集速度可达400点/秒,并能得到理想的312x256像素分辨率的花样:这比同类型的基于CCD的探测器采集速度快3倍,得到至少4倍像素的花样。C-Nano值得让您信任的性能,使其即使在更具挑战性的材料上,也能提供出色数据质量。

C-Nano的光学设计确保了极高的灵敏度和子像素失真级别,使其成为需要优良、高清花样的精细的应变分析的理想探测器。C-Nano的灵敏度确保在使用非常低的束流(在3nA以下)时也能达到最大的分析速度,从而能够对电子束敏感材料和纳米晶材料进行详细和成功的分析。

C-Nano还得益于整个牛津仪器CMOS探测器系列的新设计功能,包括可避免潜在、昂贵代价的碰撞发生的接近传感器。C-Nano是一个您可以一直信赖使用的探测器。


牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器C-Nano特点

C-Nano探测器是高性能CMOS技术的入门选项:

  • 保证在3nA束流条件下,实现400pps的标定速度
  • 最高速度下采集312x256像素的花样分辨率——是同等速度下高分辨CCD探测器的4倍
  • EBSD百万像素全分辨率花样(1244x1024像素)——高分辨率EBSD应变分析的理想选择
  • 低失真光学器件, 确保角度精度优于0.05°
  • 优化的高灵敏度荧光屏, 确保低剂量和低束流能量下的高质量的花样——增大空间分辨率
  • 即使在最快速度下也能实现无缝的EDS集成
  • 波纹管SEM接口,保持SEM真空完整性
  • 独特的接近传感器——在可能发生的碰撞发生之前自动将探测器移动到安全位置
  • 简单直观的探测器设置,确保每次都能获得满意效果
  • 五个集成的前置探测器, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像

电子背散射衍射(EBSD)是一种基于扫描电子显微镜(SEM)),提供样品显微结构晶体学信息的技术。在EBSD中,电子束与倾斜的晶态样品相互作用,形成衍射花样。衍射花样可以通过荧光屏探测到,它具有所产生处样品的晶体结构和取向特征。因此,衍射花样可用来确定晶体结构及取向、区分晶体上不同的相、表征晶界、和提供有关局部结晶完整性的信息。
 
EBSD已成为SEM中的一个出色的附件,常用来提供晶体学信息。EBSD广泛地应用于许多不同的领域,以帮助材料表征,如下表所示。
 
 AZtec EBSD系统结合了EBSD( Symmetry )的速度和灵敏度以及 AZtecHKL软件出色的分析性能,为电子背散射衍射(EBSD)和透射菊池衍射(TKD)分析提供了一种功能强大、用途广泛的工具。

行业 材料 典型的EBSD测量
金属研究和加工 金属,合金 晶粒尺寸
航天 金属间化合物 晶界表征
汽车 夹杂物/沉淀物/第二相 体织构
核能 陶瓷 局部织构
微电子 薄膜 CSL晶界表征
地球科学 太阳能电池 再结晶或形变率
科研领域 地质 亚结构分析
  半导体 相鉴定
  超导体 相分数和相分布
  相变
  金属和陶瓷复合材料 断口分析
  骨头,牙齿 晶粒和相间的取向与取向差关系

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关键词: 电子背散射衍射
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