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牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器C-Swift

产品简介:

牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器C-Swift是CMOS探测器家族的新成员,专为常规材料分析和快速样品表征而设计。C-Swift继承了Symmetry的许多优点,包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift也成为一种开创性的EBSD探测器。 牛津仪器 电子背散射衍射(EB...

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详细介绍
牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器C-Swift是CMOS探测器家族的新成员,专为常规材料分析和快速样品表征而设计。C-Swift继承了Symmetry的许多优点,包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift也成为一种开创性的EBSD探测器。

牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器C-Swift是一个先进、高速EBSD探测器。与Symmetry探测器一样,C-Swift使用定制的CMOS传感器来实现高速和高灵敏度,以确保即使在更具挑战性的材料上也能获得高质量的结果。

C-Swift最大速度为1000pps,同时可获得高质量的花样分辨率(156x128像素)。这相当于基于CCD的探测器以相似速度运行时所采集花样像素数的4倍,确保所有类型样品的可靠标定和高命中率。无失真光学系统与AZtec软件中强大的标定算法结合,使C-Swift能够提供优于0.05°的高角度精度。对于需要更高质量花样的应用,  C-Swift可以以高达250pps的速度采集622x512像素的花样,使其成为复杂的多相样品和精细的相分析的理想选择。

这是专为快速、有效的样品表征而设计的探测器。系统的每个组件,从接近传感器到可选的集成前置探测器,都经过设计, 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成为每个实验室的标准工具。


牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器C-Swift特点

当速度是关键时,C-Swift探测器达到了一个新标准:

  • 仅需要12nA的电子束流,就能保证1000pps的标定速度
  • 最高速度下的156x128像素的花样分辨率——同等速度下快速CCD探测器的4倍
  • 全分辨率花样(622x512像素)——精细的相分析和形变分析的理想选择
  • 低失真光学系统, 确保角度精度优于0.05°
  • 优化的高灵敏度荧光屏, 确保低剂量和低束流能量下的高质量的花样——实现最大的空间分辨率
  • 即使在最快速度下也能实现无缝的EDS集成
  • 波纹管SEM接口,保持SEM真空完整性
  • 独特的接近传感器——在可能发生的碰撞发生之前自动将探测器移动到安全位置
  • 简单直观的探测器设置,确保每次都能获得良好的效果
  • 五个集成的前置探测器, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像

电子背散射衍射(EBSD)是一种基于扫描电子显微镜(SEM)),提供样品显微结构晶体学信息的技术。在EBSD中,电子束与倾斜的晶态样品相互作用,形成衍射花样。衍射花样可以通过荧光屏探测到,它具有所产生处样品的晶体结构和取向特征。因此,衍射花样可用来确定晶体结构及取向、区分晶体上不同的相、表征晶界、和提供有关局部结晶完整性的信息。
 
EBSD已成为SEM中的一个出色的附件,常用来提供晶体学信息。EBSD广泛地应用于许多不同的领域,以帮助材料表征,如下表所示。
 
 AZtec EBSD系统结合了EBSD( Symmetry )的速度和灵敏度以及 AZtecHKL软件出色的分析性能,为电子背散射衍射(EBSD)和透射菊池衍射(TKD)分析提供了一种功能强大、用途广泛的工具。

行业 材料 典型的EBSD测量
金属研究和加工 金属,合金 晶粒尺寸
航天 金属间化合物 晶界表征
汽车 夹杂物/沉淀物/第二相 体织构
核能 陶瓷 局部织构
微电子 薄膜 CSL晶界表征
地球科学 太阳能电池 再结晶或形变率
科研领域 地质 亚结构分析
  半导体 相鉴定
  超导体 相分数和相分布
  相变
  金属和陶瓷复合材料 断口分析
  骨头,牙齿 晶粒和相间的取向与取向差关系

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关键词:电子背散射衍射
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