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牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器Symmetry S2

产品简介:

牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器Symmetry S2采用专门定制的CMOS传感器和光纤板光学系统,集高速、高灵敏度和高衍射花样质量于一体的强大组合。Symmetry S2与AZtec软件相结合,为所有材料和所有测量提供优越的性能。Symmetry S2的最高分析速度超过4500 pps,可在...

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详细介绍

牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器Symmetry S2采用专门定制的CMOS传感器和光纤板光学系统,集高速、高灵敏度和高衍射花样质量于一体的强大组合。Symmetry S2与AZtec软件相结合,为所有材料和所有测量提供优越的性能。Symmetry S2的最高分析速度超过4500 pps,可在几秒钟内实现织构和晶粒度表征,而这是在不需要高束流或牺牲花样分辨率的条件下实现的。这意味着,即使对难做样品,如多相轻合金或变形钢,也可以实现高速及高质量的分析。

此外,Symmetry S2可以采集无畸变、百万像素分辨率的EBSD花样,用于精细的应变和相分析。软件控制探头倾转(自动动态校准)和接近报警等创新功能,使Symmetry S2成为一款适合所有应用的探测器。

当无需在速度和精度间做选择时,全能型Symmetry S2可以轻松满足所有应用需要。


牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器Symmetry S2特点

Symmetry S2探测器性能出色,使用方便,是所有EBSD应用的理想探测器:

  • 保证标定速度 > 4500点/秒(pps)
  • 光纤板光学系统带来优异的灵敏度
  • 高灵敏度 > 800 pps/nA
  • 最快速度时花样分辨率为156 x 88 像素
  • 百万像素全分辨率(1244 x 1024)花样——理想的高角度分辨率(HR)-EBSD应变分析
  • 亚像素畸变,保证角度精度优于0.05°
  • 软件控制倾转接口,且自动校准——为所有大小的样品和几何设置提供理想的定位和标定
  • 接近报警——提前探测可能发生的碰撞,并自动移动探测器至安全位置
  • 五个集成的前散射探测器(FSD,选配), 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像
  • 波纹管SEM接口,保持显微镜真空的完整性
  • 简单直观的探测器设置,确保每次都能获得优异的结果

牛津仪器 电子背散射衍射(EBSD)探测器Symmetry S2应用

Symmetry S2集极速、灵敏度和多功能于一体,是一款能够覆盖所有应用领域的全能型EBSD探测器。这包括:

  • 标准金属和合金样品的常规分析
  • 深入检查应变和变形
  • 复杂或束流敏感样品的有效表征
  • 优化大样品测量
  • 纳米晶材料的透射菊池衍射(TKD)分析

材料性能的快速质量控制

  • Symmetry S2的最大分析速度 >4500 pps,可在若干秒钟内测量样品关键性能
  • 依据ASTM E2627标准分析双相不锈钢的晶粒度,晶粒数量 >2000个,时间<80秒。
  • 同样,织构和相分数的快速表征使得Symmetry S2非常适合于质量控制和高产量应用
  • 仅使用中等束流(4 nA)即可对各种材料完成高速分析

敏感样品的高速分析

  • Symmetry S2探测器内独特的光纤板光学系统提供了优异的灵敏度,不仅确保来自束流敏感材料的出色数据,而且对所有样品类型都有性能优势
  • 对石英(SiO2)矿物样品,仅使用中等束流以1900 pps的速度在12分钟内完成准确相分析
  • Symmetry S2的灵敏度确保您可以在所有应用中利用探测器的高速度,短时间内完成大量样品的检测

应变样品的详细分析

  • 为了有效地表征应变,具有百万像素分辨率和最小畸变的探测器至关重要
  • Symmetry S2是一款能满足这些标准的探测器——全1244 x 1024像素衍射花样是高角度分辨率(HR)EBSD的理想选择,每个探测器都能保证亚像素畸变
  • 本例显示了高质量的EBSD花样与AZtec的高精度标定模式如何描述应变镍样品中的位错胞

分析任意大小的样品

  • 使用传统EBSD探测器很难分析大样品,因为它们需要在SEM的长工作距离(WD)下进行分析,这会损害标准EBSD几何位置
  • Symmetry S2有软件控制倾斜,可为每种样品类型定位于其理想的几何位置,从TEM薄片到厘米尺度样品(如原位测试样品或地质薄片)
  • 该面分布图显示了来自大型力学测试的Ti64合金样品的EBSD数据,晶粒取向数据用于计算加载方向的杨氏模量



电子背散射衍射(EBSD)是一种基于扫描电子显微镜(SEM)),提供样品显微结构晶体学信息的技术。在EBSD中,电子束与倾斜的晶态样品相互作用,形成衍射花样。衍射花样可以通过荧光屏探测到,它具有所产生处样品的晶体结构和取向特征。因此,衍射花样可用来确定晶体结构及取向、区分晶体上不同的相、表征晶界、和提供有关局部结晶完整性的信息。
 
EBSD已成为SEM中的一个出色的附件,常用来提供晶体学信息。EBSD广泛地应用于许多不同的领域,以帮助材料表征,如下表所示。
 
 AZtec EBSD系统结合了EBSD( Symmetry )的速度和灵敏度以及 AZtecHKL软件出色的分析性能,为电子背散射衍射(EBSD)和透射菊池衍射(TKD)分析提供了一种功能强大、用途广泛的工具。

行业 材料 典型的EBSD测量
金属研究和加工 金属,合金 晶粒尺寸
航天 金属间化合物 晶界表征
汽车 夹杂物/沉淀物/第二相 体织构
核能 陶瓷 局部织构
微电子 薄膜 CSL晶界表征
地球科学 太阳能电池 再结晶或形变率
科研领域 地质 亚结构分析
  半导体 相鉴定
  超导体 相分数和相分布
  相变
  金属和陶瓷复合材料 断口分析
  骨头,牙齿 晶粒和相间的取向与取向差关系

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关键词: 电子背散射衍射
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