布鲁克Bruker JVX7300F-W 半导体计量仪
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简介：布鲁克Bruker JVX7300F-W 半导体计量仪拥有最新的系统控制。布鲁克Bruker JVX7300F-W 半导体计量仪是完全自动化的，是由300毫米XRF技术系统和其Ag模块特性组成,分析组成下撞击金属。由于极其微小的x光光斑大小...
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布鲁克Bruker JVX7300F-W 半导体计量仪拥有最新的系统控制。布鲁克Bruker JVX7300F-W 半导体计量仪是完全自动化的，是由300毫米µXRF技术系统和其Ag模块特性组成,分析组成下撞击金属。由于极其微小的x光光斑大小,与竞争对手系统不同,个别测量是可行的,甚至10µm直径,在这个例子中,使用小束剖面在单个模块Ag组成。构成可以快速、可靠地获得,满300mm晶圆与快速映射。非盟组成的地图,Pd可以自动生成。
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