布鲁克Bruker JVX7300LSI 半导体计量仪
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简介：布鲁克Bruker JVX7300LSI 半导体计量仪是专在线监控半导体材料的研发和生产过程。它使全自动描述许多先进材料的半导体行业。标准配置是JVX7300L,实现扫描HRXRD XRR,XRD、GI-XRD WA-XRD。具有全自动光学...
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布鲁克Bruker JVX7300LSI 半导体计量仪是专们在线监控半导体材料研发生产过程的一款仪器。布鲁克Bruker JVX7300LSI 半导体计量仪全自动分析许多先进材料。标准配置是JVX7300L,实现扫描HRXRD XRR,XRD、GI-XRD WA-XRD。具有全自动光学来源,系统可以切换标准XRD,高分辨率,和x射线反射率模式无需用户干预,甚至在同一配方批。布鲁克Bruker JVX7300LSI 半导体计量仪完全自动化的校准、测量、分析和报告的结果可以确保生产和快速描述薄膜。允许平面x射线衍射测量,可以添加可选的信息通道。
布鲁克Bruker JVX7300LSI 半导体计量仪升级为HRXRD s通道的结构，HRXRD图案结构,通道可以添加。这提供了一种高分辨率束50µmx50µm样品,连同完整的模式识别,并允许测试结构的测量有图案的晶片。主要应用:FinFET表征,包括外延层；III-V如果未来的节点上的发展；氮化镓对Si的功率晶体管；High-K厚度、密度和结晶度；所有应用程序都是通过我们的综合分析软件套件进行分析模拟。
如果您需要布鲁克Bruker JVX7300LSI 半导体计量仪及布鲁克品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门：0731-84284278 84284378。
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