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艾克赛普ACCEXP集成电路高温动态老化系统

名称:电路板PCB测试仪

品牌:

型号:

简介:集成电路高温动态老化系统 符合标准:MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准。 适用范围:适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路,包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储...

  • 产品介绍
艾克赛普ACCEXP集成电路高温动态老化系统
符合标准:MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等试验标准。
适用范围:适用于各种封装形式的大、中、小规模数字、模拟、数模混合集成电路,包括微处理器、逻辑电路、可编程器件、存储器、A/D、D/A等器件的工作寿命试验和高温动态老炼筛选。
技术特点:
①  一板一区,可满足16种不同试验参数的器件同时老化。
②  强大的图形发生系统,64路数字和2路模拟可编程信号。
③  完善的、种类齐全的老化器件数据库可供用户调用。
技术性能
产品型号 BIC64-16 BIC64-8
产品名称 集成电路高温动态老化系统
高温试验箱 ESPEC产PH-201大容量高温试验箱1台套, 内箱尺寸:60cm×60cm×60cm,水平风道设计。 ESPEC产LC-213高温箱一台,内箱尺寸:45cm×45cm×45cm,垂直风道设计。
试验区域  16个 (一板一区)  8个 (一板一区)
 试验容量 200×16=320位(以DIP14为例) 136×8=1088位(以DIP14为例)  
一级电源 8∽16台25V/40A或40V/25A等规格可选 4∽8台25V/40A或40V/25A等规格可选
二级电源  ◆每个通道提供独立程控的VCC、VMUX、VCLK、VEE四路二级电源。
◆每路二级电源具有过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能。
◆输出能力:±1.00V~±18.00V/10A。
◆电源监测:实时监测记录二级电源的电压,并可生成图形曲线,便于试验监控。
数字信号
 
◆每个通道:64路数字信号。
◆编程能力:编程深度256Kbit;最小编程步长:100ns;编程分辨率:100ns;最高信号频率:5MHz。
◆寻址能力:可寻址64Gbit(老化ROM/SRAM等) A00~A35, 可寻址行列地址刷新器件64Gbit(老化DRAM/SDRAM等)AXX~A17,AYY:A00~A17。
◆信号特性:每路均具有数据、地址、控制、三态属性编辑功能。
◆驱动能力:IOL≥300mA、IOH≥100mA、Tr≤50ns、Tf≤50ns。
模拟信号 ◆模拟信号数:2路
◆波形类型:正弦波、三角波、前沿锯齿波、后沿锯齿波、矩形波。
◆模拟信号指标: 信号可编程频率:1Hz~32KHz; 程控幅度范围Vpp:0~±10V;
直流偏移量范围Vdc:0~1/2 Vpp;编程步长: 0.01V;驱动能力:≥1.0A;
上位机 工业级电脑主机、液晶显示器、专用键盘及鼠标。WINDOWS操作界面,友好的人机对话窗口,强大的图形编辑能力以及强大的器件库供用户选择,软件操作简单易学。更有系统查询诊断功能,试验状况一目了然,方便用户随时查验。
电网要求 单相AC220V,6KW 单相AC220V,3KW
外形尺寸  WхHхD:140х188х132(cm)  WхHхD:105х188х112(cm)
重量  约500kg 约300kg
 
       长沙艾克赛普仪器设备有限公司(简称艾克赛普/Accexp)是一家长期服务于长沙仪器仪表测试行业的高科技企业。艾克赛普公司通过应用国际领先的测试仪器平台传感器等领先技术及物联网、云计算的整合,为客户的测试需求提供针对行业应用的完整解决方案。您我身边世界的运转都离不开科学,而没有测试和仪器,便没有科学。艾克赛普致力于提供更科学智能的测试软硬件方案,目前是湖南长沙地区领先的仪器仪表公司。
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