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Tektronix泰克 误码率测试仪BSX125

名称:误码率分析仪

品牌:

型号:

简介:Tektronix泰克 误码率测试仪BSX125引入了能够支持第四代及以上新兴标准的接收机测试平台。通过增加强大的数据处理和内置发射机均衡技术,BERTScope 支持基于协议的握手功能,并与被测器件 (DUT) 同步,包括交互式链路训练,...

  • 产品介绍

Tektronix泰克 误码率测试仪BSX125引入了能够支持第四代及以上新兴标准的接收机测试平台。通过增加强大的数据处理和内置发射机均衡技术,BERTScope 支持基于协议的握手功能,并与被测器件 (DUT) 同步,包括交互式链路训练,支持最高 32 Gb/s 的数据速率。Tektronix泰克 误码率测试仪BSX125缩短了调试物理层和链路训练问题所需的时间,为满足各种标准提供了最快速的途径。
 

Tektronix泰克 误码率测试仪BSX125主要性能指标
  • 高达 32 Gb/s 的码型发生和误码分析功能
  • 选配内置 4 阶发射机均衡功能,支持交互式链路训练
  • 面向协议和面向位的多链码型定序技术,增强型码型/序列编辑器
  • 激励响应反馈,用户自定义检测器码型匹配
  • 已获专利的误码定位分析技术(Error Location Analysis™ ),超越BER测量,分析关联度和确定性错误码型,深入了解误码根源
  • 选配前向纠错分析技术,根据测得误码位置码型仿真FEC后误码率
  • 集成眼图和 BER 关联功能,包括模板测试、抖动峰值、BER轮廓
  • 选配抖动分离及定位 (Jitter Map) 系统,提供丰富的抖动解析 – 支持长码型(如 PRBS-31)

Tektronix泰克 误码率测试仪BSX125主要特点
  • 为接收机压力测试、调试和一致性测试提供单一解决方案
  • 测试第三代和第四代标准,包括 PCIe、SAS 和 USB3.1 及各种自主开发的标准
  • 超过 16 Gb/s 的 DUT 握手功能,满足环回发起和自适应链路训练的接收机测试要求,支持 PCIe 等主要标准
  • 协议识别码型发生和误码检测,支持灵活的激励响应编程能力,调试握手问题。
  • 前向纠错(FEC)仿真选项,可以测量纠错前和纠错后BER,支持常用的Reed-Solomon FEC代码。
  • 为各种主要标准提供了校准和测试自动化软件

Tektronix泰克 误码率测试仪BSX125应用
  • 设计验证,包括信号完整性、抖动和时序分析
  • 测试高速串行系统、复杂设计的性能
  • 设计/验证高速 I/O 组件和系统,包括 DUT 握手
  • 信号完整性分析 – 模板测试、峰值抖动、BER轮廓、抖动分离及定位(Jitter Map)和前向纠错仿真

型号 通道 最大数据速率 排序器状态/电平
BSX240 1 24 Gb/s 128/2
BSX320 1 32 Gb/s 128/2
BSX125 1 12.5 Gb/s 128/2
 

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