布鲁克Bruker JV-QC3 半导体计量仪
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简介：布鲁克Bruker JV-QC3 半导体计量仪拥有高分辨率x射线衍射对外延层(HRXRD)系统，布鲁克Bruker JV-QC3 半导体计量仪是最新的具有可行的质量控制范围的高分辨率x射线衍射仪,在20年的时间里,世界各地的数百人在使用在化...
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布鲁克Bruker JV-QC3 半导体计量仪拥有高分辨率x射线衍射对外延层(HRXRD)系统，布鲁克Bruker JV-QC3 半导体计量仪是最新的具有可行的质量控制范围的高分辨率x射线衍射仪,在20年的时间里,世界各地的数百人在使用在化合物半导体和硅的研究和生产设施。布鲁克Bruker JV-QC3 半导体计量仪是一个高分辨率x射线衍射的工具,是理想的半导体开发和质量控制。布鲁克Bruker JV-QC3 半导体计量仪用于外延层的组成和厚度测量几乎任何材料。系统使用标准密封管光学,加上各种梁的优化调节晶体,可以给最高的分辨率和结合强度为每个应用程序。
布鲁克Bruker JV-QC3 半导体计量仪提供真正的自动化操作,直接水平样本安装,和完全自动化校准、测量和数据分析。数据分析可以自动执行,或离线使用我们的流行拉德软件。样品阶段有一个完整的300毫米的旅行,允许大型晶片的测量,或同时几个较小的晶片。一个可选的机器人处理程序可以自动加载和测量从磁带。布鲁克Bruker JV-QC3 半导体计量仪是半导体基板的常规分析的理想工具。
如果您需要布鲁克Bruker JV-QC3 半导体计量仪及布鲁克品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门：0731-84284278 84284378。
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