艾克赛普 Chroma 3280 SD Card 测试分类机
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简介：艾克赛普 Chroma 3280 SD Card 测试分类机采用创新的技术整合SD卡测试机与 自动分类机的功能，并利用Test-In-Tray的技术来 达到大量平行测试的能力。透过支援SD资料传 输协定(SD Protocol Aware)...
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- 产品介绍
对于低价的消费性产品而言,即使在生产成本上 仅有些微的差距，制造商也会极为敏感。而这样 的特性往往是此类消费性产品在成品测试中之一 大挑战。对于SD卡类产品而言，为了能够降低 生产的成本，SD卡类制造商了解在SD卡的制程 中必须采用Known Good Die(KGD)来进行生产。 其主要的原因，乃是因为采用KGD生产的SD卡类 产品，将可减少在成品测试中对于测试项目的要 求，只需针对成品封装过程中所可能产生的瑕疵 进行检测，而不需要再对整个晶片进行完整的测 试。
艾克赛普 Chroma 3280 SD Card 测试分类机整合了测试机台与自动分类机的功 能，并采用创新的设计，满足采用KGD生产的SD 卡类产品的测试需求，不论是在机台的成本或是 体积上，都比传统的测试机台来的大幅降低，因 此也就能够相对地大幅降低测试的成本。
艾克赛普 Chroma 3280 SD Card 测试分类机提供SD卡高效率的测试解决方案
Test-In-Tray : 乃是将待测物置于IC托盘中直接测 试的测试方式。利用这样的测试方法，可以大幅 节省传统的测试方法因自动分类机在进行测试 时，必须以机器手臂夹取每个待测元件所需花取 的索引时间。因此，提供了一个最有效率的测试 方法。在Chroma 3280中,对于120个SD卡进行测 试时所需花费的索引时间大约只有10秒钟。
高平行测试能力 : Chroma 3280配备了一个专属 的SD卡测试机巢 (Test Hive)，此一测试机巢提供 了能够同时测试120个micro SD卡的测试能力。
SD卡测试模组 : Firecracker II
Firecracker II的电路设计与装置于3280测试机巢 (Test Hive)中的测试模组其电路设计完全一样。 对于3280的使用者而言，Firecracker II是一个相 当方便的工具。它能够使得使用者在与3280离线 的状态下，用来产生或测试其测试程式。透过多 样化转接介面的设计，使用者能在Firecracker II的 左端中插入micro SD, mini SD, SD以及MMC等不同 的待测物，而将其右边的USB介面可插入电脑的 USB插槽，配合Firecracker II所提供的软体程式， 使用者将可进行直接的测试或是除错等工作。
艾克赛普 Chroma 3280 SD Card 测试分类机测试能力
SD Protocol Aware Tests
- Check CID Reg
- Check CSD Reg
- Check OCR Reg
- Check SCR Reg
- Check SD Status
- Functional Test
DC Measurements
- Open/Shorts
- ESD Diodes
- Power Up Idd
- Leakage
艾克赛普 Chroma 3280 SD Card 测试分类机软体功能
- 使用者权限与密码管理
- 机台状况警示侦测系统
- 视觉化图解显示机台卡件错误发生区域
- 提供离线模拟执行模式
- 即时测试结果显示与更新
- 可个别指定或取消单一待测物之测试
- 测试良率与UPH资讯显示
- 多种良率监控指标设定
- 测试中机台开门中断保护功能
- 紧急停机控制功能
- 系统警示纪录保存功能
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