艾克赛普 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机
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简介：艾克赛普 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机是一款创新的微型 IC 测试分类机，特别适合 CMOS 影像感应组件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量产所需，艾克赛普 Chroma 3270 微型 IC 测试分...
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- 产品介绍
艾克赛普 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机是一款创新的微型 IC 测试分类机，特别适合 CMOS 影像感应组件 (CIS : CMOS Image Sensor) 量产所需，艾克赛普 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机可配合多种不同的封装类型包括传统的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封装。艾克赛普 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机采用 Pick & Place 技术，可从JEDEC夹盘来拾取IC，移动到测试位置，然后将测试后产品置于适当之 Tray 盘。
艾克赛普 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机能同时处理32个待测物进行平行测试，并提供50˚C~125˚C高温测试选择。不但能提高产量，提升生产良率，同时大幅降低测试成本。以下是长沙艾克塞普仪器设备有限公司为您介绍艾克赛普 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机的产品特性，如有疑问或者需要相关资料，请联系长沙艾克赛普仪器设备有限公司www.hncsw.net，可提供样机和相关工程师上门演示沟通，联系电话：0731-84284278 84284378。
艾克赛普 Chroma 3270 微型 IC 测试分类机产品特性：
适合 CMOS 影像感应组件量产需求
可靠的高速 Pick&Place 分类机
3x3 mm 微型 IC 处理能力
浮动头可有效率平衡测试压力
自动测试压力学习
IC 残留检测功能
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