艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System
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简介：艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System是艾克赛普公司全权代理台湾Chroma公司的产品。以下是长沙艾克塞普仪器设备有限公司为您介绍艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog T...
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艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System是艾克赛普公司全权代理台湾Chroma公司的产品。以下是长沙艾克塞普仪器设备有限公司为您介绍艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System的产品特性和功能应用，如有疑问或者需要相关资料，请联系长沙艾克赛普仪器设备有限公司www.hncsw.net，可提供样机和相关工程师上门演示沟通，联系电话：0731-84284278 84284378。
艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System产品特性：
50/100MHz测试工作频率
1024个 I/O 通道(I/O Channel)
32M (64M Max.) Pattern 记忆体 (Pattern Memory)
Per-Pin 弹性资源架构
512 DUTS 平行测试功能
96个电源通道
硬体规则模式产生器 (Algorithmic Pattern Generator)
BIST/DFT扫描链(Scan Chain)测试模组选项
好学易用的 WINDOWS 7作业环境
每片 VI45 类比单板可支援8~32通道
每片 PVI100 类比单板可支援2~8通道
每片 HDADDA 混合讯号单板可支援32通道
弹性化的 MS C/C++ 程式语言
即时pattern编辑器，含Fail pin/address显示
测试程式/测试pattern转换软体(J750-EX)
多样化测试分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool,Histogram tool 等
最经济实惠的SoC和消费性混合信号晶片产品测试方案
艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System功能应用：
艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System平行测试功能
艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System可在一个测试头中，提供最多 1024个数位通道，并具备高产能的平行测试功 能，最高可同时测试512 个待测晶片，以提升 量产效能。在Chroma 3650-EX中，每片单一的 HDLPC板拥有128个数位通道，并结合具备高效 能基础的Pin Function (PINF) IC，每一颗 PINF IC 具备4个数位通道的时序产生器，以提供50ps 以 内的精准度。
艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System弹性化架构
虽然半导体产业是一个变化快速的产业，但其 资产设备应建立在可符合长时间需求的设备之 上。艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System在设计其架构时，应用先进 的规划，具备AD/DA转换器测试模组、ALPG记 忆体测试模组、高电压PE输出模组和多重扫描 链测试模组、类比测试模组等等选配，以确保 符合未来多年的测试需求。另艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System具 有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模组，可实现从 设计端至量产端使用同一PXI平台已减少因硬体 不同所造成的测试误差。
CRISP (软体测试环境)
架构在Windows 7作业系统上的Chroma 3650-EX 的软体测试环境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form)，是一个结合工程开发与量 产需求的软体平台。主要包含四个部份 : 执行控 制模组、资料分析模组、程式除错模组以及测 试机台管理模组。透过亲切的图形人机介面的 设计，CRISP提供多样化的开发与除错工具，包 含:Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor与Plan Debugger 等软体 模组，可满足研发/测试工程师开发程式时的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重复任一测试 参数，包含时序、电压、电流等，以评估其测试 流程之稳定度。
在量产工具的部份，透过特别为操作员所设计 的OCI (Operator Control Interface)量产平台，生产 人员可轻易地控制每个测试阶段。它提供产品导 向的图形介面操作，用来控制 Chroma 3650-EX、 晶圆针测机和送料机等装置沟通。程式设计者可 先行在Production Setup Tool视窗之下设定OCI的 各项参数，以符合生产环境的需求。而操作员所 需进行的工作，只是选择程式设计者已规划好的 流程，即可开始量产，大幅降低生产线上的学习 的时间。
艾克赛普 Chroma 3650-EX SoC/Analog Test System最低价位的测试解决方案
要配合现今功能日趋复杂的IC晶片，需要具备功 能强大而且多样化的测试系统。为了达成具成 本效益的测试解决方案，必须藉由降低测试时 间和整体成本来达成，而非只是简单地减少测 试系统的价格而已。Chroma 3650-EX的设计即 是可适用于所有类型的应用环境，例如 : 工程验 证、晶圆测试和成品测试。周边设备。Chroma 3650-EX支援多种装置的驱动程式介面(TTL& GPIB ) ，可进行与晶圆针测机和送料机，包括Chroma Handler、SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTITEST 、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等 等装置之间的沟通。
应用支援
不管是新客户或是现有客户，Chroma 均提供广 泛的应用支援，以确保所有的设计皆能精准地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生产 量、把握新兴市场的机会、提高生产力、以创新 策略降低测试成本、或在尖峰负载情况下增加容 量，Chroma 位于全球的客服支援人员皆会竭尽 所能提供客户即时解有效率的解决方案。
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