艾克赛普 Chroma 3360 VLSI 测试系统是艾克赛普公司全权代理台湾Chroma公司的产品。以下是长沙艾克塞普仪器设备有限公司为您介绍艾克赛普 Chroma 3360 VLSI 测试系统的产品特性和功能应用,如有疑问或者需要相关资料,请联系长沙艾克赛普仪器设备有限公司www.hncsw.net,可提供样机和相关工程师上门演示沟通,联系电话:0731-84284278 84284378。
	艾克赛普 Chroma 3360 VLSI 测试系统产品特性:
	50 MHz 测试频率
	608 个 I/O 通道
	8M (标准) /16M (选购) Pattern 记忆体
	弹性化硬体结构 (互换式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
	平行测试可达 32 devices
	Real Parallel Trim/Match 功能
	直接装设 SC312, TS670 针测卡
	测试程式/pattern 转换器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K, TS670, ND1)
	Analog PE card 选配 (16 ~24 bits)
	SCAN test 选配 (512M)
	ALPG test 选配供记忆体用
	STDF 工具支援
	人性化 Windows XP 操作环境
	CRAFT C/C++ 程式语言
	即时pattern编辑器,含Fail pin/address显示
	多样化的测试解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.
	 
	艾克赛普 Chroma 3360 VLSI 测试系统功能应用:
	Most Flexible Configuration for Various Devices (Logic, LCD, LED, ADDA, ALPG, SCAN, Power and etc.)