美国NI PXIe-5860 双通道RF PXI矢量信号收发仪(VST)
名称：信号发生器
品牌：美国NI
型号：PXIe-5860
简介：美国NI PXIe-5860 双通道RF PXI矢量信号收发仪(VST)是具有1GHz瞬时带宽的双通道8.5 GHzPXI矢量信号收发仪(VST)。该VST将两个矢量信号发生器和两个矢量信号分析仪组合成一个双槽PXIExpress仪器。PX...
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- 产品介绍
美国NI PXIe-5860 双通道RF PXI矢量信号收发仪(VST)是具有1GHz瞬时带宽的双通道8.5 GHzPXI矢量信号收发仪(VST)。该VST将两个矢量信号发生器和两个矢量信号分析仪组合成一个双槽PXIExpress仪器。PXle-5860不仅具备高密度、快速的测量速度和小巧的生产测试仪器组成结构,同时还拥有研发级盒式仪器的灵活性和高性能。可使用VST对蜂窝和无线标准(例如，Wi-Fi7和5GNR)执行误差矢量幅度(EVM)测试。通过PXle-5860的通道密度、频率覆盖范围和带宽可用性，您还可以为各种半导体和电子生产应用执行多站点和多通道测试。
RF发生器频率范围: 50 MHz 至 8.5 GHz
RF发生器瞬时带宽: 1 GHz
RF分析仪频率范围: 50 MHz 至 8.5 GHz
RF分析仪瞬时带宽: 1 GHz
发生器调谐时间（典型）: 150 us
I/O Type: RF
美国NI PXIe-5860 双通道RF PXI矢量信号收发仪(VST)采用创新的射频直采架构，仪表体积缩小一半，射频性能不妥协。
➤双通道、高带宽
1台仪器提供2个矢量信号源和2个矢量信号分析仪功能，支持50MHz–8.5GHz 超宽频段 和1GHz瞬时带宽 ，轻松覆盖Wi-Fi 7、5G/6G 通信等需求。
➤射频直采架构优势
创新射频仪表设计，射频直采架构，大大简化射频前端设计，无需本振，频率调谐更快，且没有本振泄漏和边带镜像问题。
频率设定时间: ≤150µs
幅度设定时间(<最终值0.1dB): 27µs
➤极致信号质量
输出功率 高达22dBm（@3GHz） ，满足高强度发射场景；
分析端EVM低至-55dB（5G NR FR1，100MHz）或-48dB（Wi-Fi 7 320 MHz信号）
本底噪声-166dBm/Hz（50MHz-7.5GHz，输出功率-30dBm）
➤模块化设计，灵活扩展
仅需2个PXIe槽位 ，相同机箱大小可以提供更高测试密度，适配产线批量测试，MIMO测试、多DUT并行验证等场景 。
➤开放软件生态
原生支持 LabVIEW、Python、C#，集成 RFmx测量套件实现调制信号生成和分析，一键生成标准化测试报告；
➤利用双通道完成Cross Correlation提升EVM测试结果
通过控制PXIe-5860的2个独立的射频通道（相当于2台宽带射频信号分析仪），利用NI专利技术测量超宽带信号的真实被测设备（DUT）的EVM，以消除所获得的射频信号中的不相关噪声，同时可计算由待测设备产生的噪声和损伤引起的真实EVM，可以实现更准确的EVM测量，并具有比单一射频接收机更高的性能，提升约2dB。该方法已在实际项目中成功应用。
硬件配置：
软件界面：
➤Wi-Fi 7产线测试：320 MHz超宽带信号并行测试，EVM指标 低至-48 dB ；
美国NI PXIe-5860 双通道RF PXI矢量信号收发仪(VST)集成了信号生成和分析功能。PXIe-5860具有两个独立的TX/RX通道，支持最高8.5GHz的测试频率和1GHz的信号带宽。凭借卓越的RF性能和解调能力，该设备是Wi-Fi设备生产测试的理想选择。
我们可以演示一台VST上完成两个站点的并行大幅提升测试效率、提高单位小时产量（UPH）并节省测试成本。一台VST 实现双站点测试，在演示程序中，测试时间得到优化，如CHP 总测试时间为3ms，IM3总测试时间为 3.76ms等，该方法已在部分量产项目中得到应用。
硬件配置：
软件界面：
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