“捷欧路JEOL”搜索结果
捷欧路JEOL JCM-6000plus NeoScope台式扫描电子显微镜
捷欧路JEOL JCM-6000plus NeoScope 台式扫描电子显微镜采用新的操作屏幕和触控屏带来了方便的操作体验,使用起来非常直观。此外,JCM-6000标准配置了低真空模式,还可以安装EDS等附件,是一款功能丰富的台式扫描电子显微镜。尺寸:宽度325mm长度490mm高度430mm;独具
NeoScope台式扫描电子显微镜 JCM-6000plus 2018-01-02
捷欧路JEOL JED-2300/2300F 能谱仪
捷欧路JEOL JED-2300/2300F 能谱仪是以图像观察和分析 为基本理念的TEM/EDS集成系统,通过与SEM的马达驱动样品台联动使用,可以进行大范围的观察和分析。EDS通过检测被电子束激发出的样品的特征X射线,确定样品含有的元素及成分比,可以进行微区的点分析、线分析及面
能谱仪 JED-2300/2300F 捷欧路JEOL 2018-01-02
捷欧路JEOL Serial Block-face SEM 3View 肖特基场发射扫描电子
捷欧路JEOL Serial Block-face SEM 3View 肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与3View2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构,可以对精细结构进行三维分析。 捷欧路JEOL S
肖特基场发射扫描电子显微镜 Serial Block-fac 2018-01-02
捷欧路JEOL JSM-7900F 热场发射扫描电子显微镜
捷欧路JEOL JSM-7900F 热场发射扫描电子显微镜新一代FE-SEM旗舰机型。 它继承了上一代广获好评的如极高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等性能的同时,操作性能极大地简单化。 该设备不依赖操作者的技能,始终能够发挥其最佳性能。 捷欧路JEOL JSM-7900F 热场发射扫
热场发射扫描电子显微镜 JSM-7900F 捷欧路JEOL 2018-01-02
捷欧路JEOL JSM-IT500HR 扫描电子显微镜
捷欧路JEOL JSM-IT500HR 扫描电子显微镜新机型, 采用新开发的高亮度电子枪和透镜系统,可以更迅速便捷地提供令人惊叹的高分辨率图像、高灵敏度和高空间分辨率;从设定视野到生成报告,利用完全集成的软件大大地提高了作业速度。 捷欧路JEOL JSM-IT500HR 扫描电子显微
扫描电子显微镜 JSM-IT500HR 捷欧路JEOL 2018-01-02
捷欧路JEOL JSM-7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜
捷欧路JEOL JSM-7610FPlus 热场发射扫描电子显微镜的光学系统经过改进,实现了分辨率(15kV 0.8nm、1kV 1.0nm)的进一步提升,以崭新的JSM-7610FPlus形象亮相。采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统,能提供稳定的高空间分辨率观察和分析。 此外还具备利用GE
热场发射扫描电子显微镜 JSM-7610FPlus 捷欧路J 2018-01-02
捷欧路JEOL IB-19520CCP 截面样品制备装置
捷欧路JEOL IB-19520CCP 截面样品制备装置在加工过程中利用液氮冷却,能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下,也能将样品快速冷却、恢复到室温,并且可以拆卸。配有传送机构,在隔离空气的环境下能完成从加工到
截面样品制备装置 IB-19520CCP 捷欧路JEOL 2018-01-02
捷欧路JEOL IB-19530CP 截面样品制备装置
捷欧路JEOL IB-19530CP 截面样品制备装置采用多用途样品台,通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座,不仅能截面刻蚀,还可以进行平面刻蚀、离子束溅射镀膜等。通过配备高速离子源和利用自动开始加工功能,不需花费时间等待
截面样品制备装置 IB-19530CP 捷欧路JEOL 2018-01-02
捷欧路JEOL EM-09100IS 离子切片仪
捷欧路JEOL EM-09100IS 离子切片仪用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品除了需要将样品切成矩形薄片外,不需要溶剂或化学试剂及前处理(打磨或凹坑研磨),比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度(0到6)的氩离子束
离子切片仪 EM-09100IS 2018-01-02