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艾克赛普 IGBT 使用寿命预测的功率循环测试

时间:2016-09-23 10:53来源:未知 作者:刘波 点击:
艾克赛普 IGBT 使用寿命预测的功率循环测试 出于日益增长的市场和环保需求,今天的汽车工业面临着今后20年加速实现电动化的变革。最初是混合动力汽车 (HEV)(例如占据市场领先地位的丰田普锐斯)引领着汽车电动化的进程,但在未来 20 年中,纯电动汽车 (EV) 将最终成
艾克赛普 IGBT 使用寿命预测的功率循环测试
  出于日益增长的市场和环保需求,今天的汽车工业面临着今后20年加速实现电动化的变革。最初是混合动力汽车 (HEV)(例如占据市场领先地位的丰田普锐斯)引领着汽车电动化的进程,但在未来 20 年中,纯电动汽车 (EV) 将最终成为常态。
不过,汽车的电力电子设备需要具备2-5 年的使用寿命,相当于成千上万小时的使用时间和数百万次的功率循环,且必须承受高达200度的高温。因此,对于电力电子设备而言,运行可靠性至关重要,其故障成本将会十分高昂,难以承受。
随着工业电子系统的能源需求不断增加,汽车电力电子设备和器件供应商面临着为汽车 OEM 厂商提供高可靠性系统的巨大挑战。而众所周知,电力电子设备的高可靠性则与工作温度直接相关。
本研讨会说明了如何利用主动式功率循环测试IGBT和其他功率半导体,以反映其在目标应用中的温度变化,以及如何使用瞬态热测量捕捉封装结构的老化过程。另外还将介绍使用测试数据估算应用中使用寿命的步骤。
(责任编辑:hncswseo)
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