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中茂 Chroma 半导体/IC测试解决方案

时间:2015-08-13 08:32
摘要:中茂 Chroma 半导体/IC测试解决方案VLSI测试系统能精准的仿真逻辑IC复杂的电性讯号并快速判读测试结果,测试头(Test Head)的扩充功能更可执行多种测试程序并同时进行大量的并行测试(massive multisite),提高单位时间产出量(throughput); 另外,中茂 Chroma 半导体/
       中茂 Chroma 半导体/IC测试解决方案VLSI测试系统能精准的仿真逻辑IC复杂的电性讯号并快速判读测试结果,测试头(Test Head)的扩充功能更可执行多种测试程序并同时进行大量的并行测试(massive multisite),提高单位时间产出量(throughput); 另外,中茂 Chroma 半导体/IC测试解决方案客制化的测试机台可直接符合需求,取代昂贵的通用型测试机,确实达到降低测试成本的目标。 在IC后段制程中,分类机可配合多种不同封装类型的IC进行良劣分类,后端封装测试之后,中茂 Chroma 半导体/IC测试解决方案自动化系统功能测试机可迅速检测封装成品,以实际使用环境检测成品取代虚拟的测试环境,提供低成本之高涵盖率测试,大幅提高出货质量。长沙艾克赛普仪器设备有限公司是中茂 Chroma 在华中地区授权代理商,可提供样机和相关工程师上门演示沟通,以下是长沙艾克赛普仪器设备有限公司为您介绍中茂 Chroma 半导体/IC测试解决方案系列产品的详细介绍,如果您有任何问题或者需要相关资料,请随时联系:0731-84284278转801,邮箱:shawn.xiao@hncsw.net。
中茂 Chroma 半导体/IC测试解决方案 图片
VLSI 测试系统
  • Model 3380 VLSI 测试系统
  • Cost Effective For Production
  • 100Mhz clock rate, 1024 I/O channels (Max to 1280 pins)
  • Up to 1024 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
  • Your Dream Platform for Various Types of Devices.
  • Model 3380-P VLSI 测试系统
  • Cost-effective VLSI Test System
  • 100Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 576 pins)
  • Up to 512 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O,ADDA,VI source
  • Your Dream Platform for Various Types of Devices.
  • Model 3380-D VLSI 测试系统
  • Best Lab-tool engineering & production Tester
  • 100Mhz clock rate, 256 I/O channels
  • Up to 256 sites Parallel testing
  • Various VI source
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
  • Your Dream Platform for Various Types of Devices
  • Model 3360-P VLSI 测试系统
  • Bridging Design To Production. The Best Lab Tool & Cost-effective VLSI Test System
  • 50 Mhz clock rate, 256 I/O channels
  • Up to 32 sites Parallel testing
  • Support ADDA, Mixed-signal , LCD …etc option card
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, UVI, HVREF …etc option Your Dream Platform for Various Types of Devices.
  • Model 3360-D VLSI 测试系统
  • The Best Lab Tool
  • 50 Mhz clock rate, 64 I/O channels
  • Up to 8 sites Parallel testing
  • Support full rang AC Inlet & Small footprint
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI option Your Dream Platform for Various Types of Devices.
  • Model 3360 VLSI 测试系统
  • Cost-effective VLSI Test System
  • 50 Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 608 pins)
  • Up to 64 sites Parallel testing
  • Support HI-voltage VI & LCD option card
  • Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI option
  • Your Dream Platform for Various Types of Devices.
SoC 测试系统
  • Model 3650-EX SoC/Analog Test System
  • Cost effective & high parallel site Tester for Consumer SoC, Mixed-signal and Analog ICs.
  • Application coverage: MCU w ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 1024 IO channels and 96 DPS
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
  • Varieties of high density options include VI45, PVI100, HDADDA and MRX
  • Model 3650 SoC 测试系统
  • Cost effective & high throughput Tester for Consumer SoC, Mixed-signal and Analog ICs.
  • Application coverage: MCU w ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 640 channels
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
  • Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
  • Model 3650-CX SoC 测试系统
  • Versatile Compact Size IC Tester for Consumer SoC, Mixed-signal and Analog ICs.
  • Application coverage: MCU w ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
  • Expandable platform with up to 256 channels
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
  • Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
  • Model 36010 可程控逻辑脚位模块
  • 100 MHz programmable pin electronic module designed for charactering and testing digital & mixed-signal IC
  • 100 MHz maximum test rate
  • Scalable architecture to provide up to 64 pins
  • Per Pin TMU, TMU, and level/timing setting
  • 32M vector memory, with scan support
  • Model 36020 直流电源供应模块
  • Programmable DUT power supply in a single slot 3U PXI module
  • 4 Channels in standard PXI 3U/PXIe-Hybird compatible bus type
  • +5/-2V and +10V/-2V force ranges
  • 16-bits VF and 18-bits IM resolution
  • 6 selectable ranges from 5uA to 250mA, with ganged function support
IC测试分类机 (IC Test Handler)
  • Model 3110 双用单站测试分类机
  • 运用 Pick & Place 技术, 将待测晶片由进料舱移至测试区,再依测试结果进行分类。不但适用于系统功能检测,也同时具备终端电性测试的能力。
  • Model 3110-FT 三温测试分类机
  • 3110-FT为CHROMA全新开发,适用于Final test工 程产品特性及测试开发用途之Pick & Place测试分类机。
  • 可设定温度范围 -40℃~125℃
  • 适用于FT测试
  • 支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到 45x45 mm
  • Model 3111 桌上型單站測試分類機
  • Chroma 3111迷你桌上型单站的自动化测试分类机适用于系统功能检测,也同时具备终端电性测 试的能力,系统支援各种不同类型的封装晶片,支援的晶片尺寸从 5x5mm 到 45x45mm。
  • Model 3112 晶片测试分类机
  • 具备单头与多头之适合量产的PnP 自动化晶片测试分类机。
  • Model 3160/3160-A 终端测试分类机
  • 适合量产、高产出且多平行测试站点的高速IC测试分类机。
  • 9Kpcs 产能
  • 可设定的待测物间距
  • 可侧边安装tester
  • 压阀式受测物防护机
  • Model 3180 逻辑测试分类机
  • 3180是一款运用Pick & Place技术的量产型机台,适合高产出多测试站点的IC测试。节省了厂房空间,测 试时间和成本,3180创新的设计可提高生产力和生产效率。机台可配置作单站, 双站, 四站或八站测试, 亦可升级作高温150 ℃测试.。
  • 具有八个平行测试站点
  • 支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到50x50 mm
  • 温度测试范围从常温到高温150 ℃
  • Model 3240 自动化系统功能测试机
  • 可供多组PCB level平行测试的大量生产机具。
  • 4-sites
  • Model 3260 自动化系统功能测试机
  • 可供多组PCB level平行测试的大量生产机具。
  • 6-sites
  • Model 3270 微型 IC 测试分类机
  • 适合 CMOS 影像感应元件(CIS : CMOS Image Sensor) 量产所需。
  • Model 3280 SD Card 测试分类机
  • 采用创新的技术整合SD卡测试机与自动分类机的功能,并利用Test-In-Tray的技术来 达到大量平行测试的能力。
  • Model 3813 触碰面板多点半自动测试机
  • 可靠的触碰面板测试机,适合数位式触碰面板与类比式触碰面板。
外观检查系统
  • Model 7970 影像传感器检测系统
  • Chroma 7970 影像感测器检测系统为一自动化载盘式外观检测系统,可检测影像感测器正反两面外观瑕疵。
  • 提供完整的影像感测器玻璃面与锡球面外观检测功能
  • 可大幅降低处理时间之定速连续取像功能
  • 已申请专利的多吸嘴吸取功能可增加整体检测速度
  • 先进的光源系统可适用于不同的瑕疵类型

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