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天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪

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简介:天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。天瑞Skyr...

  • 产品介绍
天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。
天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪的性能特点:满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求;φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求;高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm;采用高度定位激光,可自动定位测试高度;定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐;鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点;高分辨率探头使分析结果更加精准;良好的射线屏蔽作用;测试口高度敏感性传感器保护。
以下是艾克赛普为您介绍天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪的技术参数,如有相关问题,请联系长沙艾克赛普仪器仪表公司www.hncsw.net,联系电话:0731-84284278 84284378。
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪的标准配置:开放式样品腔。精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器。保护传感器。计算机及喷墨打印机。
如果您需要天瑞Skyray Thick800A X荧光镀层测厚仪及天瑞品牌仪器、或者其他品牌仪器,均可联络我司销售部门:0731-84284278 84284378。

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