布鲁克Bruker NANOSTAR X射线多晶衍射仪
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简介：当今的材料科学家和工程师已经可以在纳米尺度了解和改进材料的性质。令人兴奋的新材料，如设计聚合物与生物陶瓷等正在研制之中，同时液晶、金属有机物和薄膜涂层等材料的更新和发展也正因为对它们纳米结构的研究和改进而逐步变为现实。小角X射线散射(Sma...
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布鲁克Bruker NANOSTAR X射线多晶衍射仪是一种用于纳米结构材料的可靠而且经济的无损分析方法当今的材料科学家和工程师已经可以在纳米尺度了解和改进材料的性质。令人兴奋的新材料，如设计聚合物与生物陶瓷等正在研制之中，同时液晶、金属有机物和薄膜涂层等材料的更新和发展也正因为对它们纳米结构的研究和改进而逐步变为现实。。SAXS能够给出1-100纳米范围内的颗粒尺度和尺度分布以及液体、粉末和块材的形貌和取向分布等方面的信息。
以下是艾克赛普为您介绍布鲁克Bruker NANOSTAR X射线多晶衍射仪的技术参数，如有相关问题，请联系长沙艾克赛普仪器仪表公司www.hncsw.net，联系电话：0731-84284278 84284378。
布鲁克Bruker NANOSTAR X射线多晶衍射仪的技术参数：布鲁克Bruker NANOSTAR X射线多晶衍射仪因其光束独具的高强度、平行初级光束和二维探测器，而与同步辐射SAXS光束具有相似的设计。使用二维探测器避免了零维和一维探测器在数据采集时产生的数据误差并除去了对样品限制性初始假定的必要。事实上，布鲁克Bruker NANOSTAR X射线多晶衍射仪可以分析并澄清样品的性质，甚至在样品颗粒不对称或表现有择优取向的情况下。另外，通过运行布鲁克Bruker NANOSTAR X射线多晶衍射仪可以得到样品具有µm量级SAXS分辨率的实空间图像。布鲁克Bruker NANOSTAR X射线多晶衍射仪还配置了高强度的X射线源和新型多层光学配件，可以为样品提供高强类点入射光束。标配的HI-STAR探测器是一种真正意义上的具有光子计数能力的无噪实时二维探测器。
如果您需要布鲁克Bruker NANOSTAR X射线多晶衍射仪及布鲁克品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门：0731-84284278 84284378。
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