布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪
名称：其他仪器与工具
品牌：
型号：
简介：布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪革命性的突破设计创新，实现了垂直高度重复性高达4埃，数据采集能力提高了40%。这一里程碑的创新和突破，使得布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而...
申请服务
- 产品介绍
布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪革命性的突破设计创新，实现了垂直高度重复性高达4埃，数据采集能力提高了40%。这一里程碑的创新和突破，使得布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪实现了纳米尺度的表面轮廓测量，从而可以广泛的应用于微电子器件，半导体，电池，高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。布鲁克Bruker Dektak 是首台基于微处理器控制的轮廓仪，首台实现微米测量的台阶仪，首台可以达到3D测量的仪器，首台个人电脑控制的轮廓仪，首台全自动300mm台阶仪。现在，全新的布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪延续了这种开创性的风格，成为世界第一台采用具有具有单拱龙门式设计，配备全彩HD摄像机，并且利用64位同步数据处理模式完成最佳测量和操作效率的台阶仪。
布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪提高测量和数据分析速度，首次采用独特高速的直接驱动扫描样品台，布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪在不牺牲分辨率和基底噪音水平的前提下，大大缩短了每次扫描的间隔时间，将数据采集处理的速度提高40%。另外，布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪采用具有64位数据采集同步分析的Vision64，可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度，并且可以加快数据滤波和多次扫描数据库分析的速度。
布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪提高操作的可重复性，使用单拱龙门结构设计更坚硬持久不易弯曲损坏，而且降低了周围环境中声音和震动噪音对测量信号的影响。布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪会把系统和环境噪音引起的测量误差降到最低，能够更稳定可靠的扫描高度小于10nm的台阶，获得其形貌特征。
布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪有完善的数据采集和分析系统，与布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪的创新性设计相得益彰的配置是布鲁克Vision64操作分析软件。Vision64提供了操作上最实用简洁的用户界面，具备智能板块，可视化的使用流程，以及各种参数的自助设定以满足用户的各种使用要求，快速简便的实现各种类型数据的采集和分析。
布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪具有简便易行的实验操作系统，布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪新颖的探针的部件自动对准装置，可以尽量避免用户在装针的过程中出现针尖损伤等意外。为尽可能满足所有应用的需求，布鲁克提供各种尺寸的标准探针和特制探针。高效率的保证，布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪卓越的测量重复性为工程师们提供准确的薄膜厚度和应力测量，使其可以精确调节刻蚀和镀膜工艺来提高产品的优良率。
如果您需要布鲁克Bruker DektakXT 探针式轮廓仪及布鲁克品牌仪器、或者其他品牌仪器，均可联络我司销售部门：0731-84284278 84284378。
最新产品
相关产品
