艾克赛普 Chroma 3110-FT 三温测试分类机
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简介：艾克赛普 Chroma 3110-FT 三温测试分类机为CHROMA全新开发，适用于Final test工 程产品特性及测试开发用途之Pick Place测试分类机。 艾克赛普 Chroma 3110-FT 三温测试分类机支援多种晶片测试,...
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- 产品介绍
艾克赛普 Chroma 3110-FT 三温测试分类机为CHROMA全新开发，适用于Final test工 程产品特性及测试开发用途之Pick & Place测试分类机。 艾克赛普 Chroma 3110-FT 三温测试分类机支援多种晶片测试, 可支援的晶片 尺寸从3x3 mm到45x45 mm。 艾克赛普 Chroma 3110-FT 三温测试分类机亦可加装 远端监控功能，可让操作者在任何地点透过网路 操作以增加设备使用率。配有2个自动分料盘及 2个手动分料盘，在仅1.4 m²的空间发挥最佳的IC 分料能力以节省成本与时间。艾克赛普 Chroma 3110-FT 三温测试分类机可支援大部分产业的标准通信介面和提供不同种类的tester的对接方式。可精准控制温度范围从-40℃ 到 125℃。具有易于操作的软体界面以及可快速更换待测产品之设计, 将可大幅缩短停机时间而进一步提高使用效率及产能。以下是长沙艾克塞普仪器设备有限公司为您介绍艾克赛普 Chroma 3110-FT 三温测试分类机的产品特性，如有疑问或者需要相关资料，请联系长沙艾克赛普仪器设备有限公司www.hncsw.net，可提供样机和相关工程师上门演示沟通，联系电话：0731-84284278 84284378。
艾克赛普 Chroma 3110 双用单站测试分类机产品特性：
可设定温度范围 -40℃~125℃
适用于 FT测试
支援的晶片尺寸从 3x3 mm 到 45x45 mm
控制下压触力在1到10 kg (Optional)
具有4个产品分类料盘
支援远端控制操作
具有测试良率控制功能
具有连续自动重测功能
具有即时监控产品分类功能
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