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艾克赛普 Chroma 3710-HS 光伏芯片检测系统整合了2D 几何计算、表面瑕疵、微裂隙检查、锯痕检查等光学检测功能，并依客户需求制定Thickness检查及Lifetime测试，是一套可针对使用者全方位客制化的光伏芯片检测系统。具有高产能及低破片率的优点，非常适合用于进料端，芯片可依使用者定义自动分类到堆迭盒或卡式盒内，独特的自动转换技术可以大量节省人工转换所需的系统待转时间，并应用高科技化的技术，确保光伏芯片输送系统中重要关键之一的低破片率。以下是长沙艾克塞普仪器设备有限公司为您介绍艾克赛普 Chroma 3710-HS 光伏芯片检测系统的产品特性和功能应用，如有疑问或者需要相关资料，请联系长沙艾克赛普仪器设备有限公司www.hncsw.net，可提供样机和相关工程师上门演示沟通，联系电话：0731-84284278 84284378。
艾克赛普 Chroma 3710-HS 光伏芯片检测系统产品特性：
适用于 5 吋及 6 吋光伏芯片
高产能及 0.2% 以下之低破片率
2D 几何计算检测
芯片表面瑕疵检测
微裂隙检测
锯痕检测
Resistively/Thickness 测试
寿命测试
简易的疑难排解程序
进料 : 堆迭盒 / 卡式盒
分类 : 堆迭盒 / 卡式盒