汇能CFTsysIII便携式一体机
名称：电路板PCB测试仪
品牌：
型号：
简介：汇能CFTsysIII便携式一体机是一款 集电脑、电路在线维修测试仪、数字存储示波器、频谱分析仪于一体，可以实现综合作业，也可各自独立使用，用户无需外接电脑，极大提高了用户使用的方便性，尤其深受部队用户的喜爱。汇能便携式一体机的问世，是国内...
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- 产品介绍
汇能CFTsysIII便携式一体机是一款 集电脑、电路在线维修测试仪、数字存储示波器、频谱分析仪于一体，可以实现综合作业，也可各自独立使用，用户无需外接电脑，极大提高了用户使用的方便性，尤其深受部队用户的喜爱。汇能便携式一体机的问世，是国内在线维修测试仪设计水平的最高体现。
一、产品结构说明：
采用标准的便携式一体化结构设计方案，集电脑、电路在线维修测试仪、数字存储示波器、频谱分析仪于一体，可以实现综合作业，也可各自独立使用，用户无需外接电脑，极大提高了用户使用的方便性，尤其深受部队用户的喜爱。汇能便携式一体机的问世，是国内在线维修测试仪设计水平的最高体现。
二、产品规格：
尺寸
420(L)* 230 (w)*280 (H)mm
净重
15kg
三、基本配置参数：
笔记本电脑：
CPU主频：1000MHZ
内存：128M
硬盘：40G
光驱：CD-R 48X
显示屏：15LCD
存储示波器：
并行双通道+ 外触发
模拟带宽：20MHZ
最大采样速率：60MHZ/CH
存储深度：4000点/CH
预触发长度：256、512、1024点
四、环境要求：
温度：0℃——40℃
相对湿度：20%——80%
电源：单相220V ±10%，50HZ
五、主要技术指标：
1、 测试仪内置高性能CPU控制电路:
a．单片机：16位（XA系列）
b．RAM：64KB
c．EPROM：16KB
d．并口：CENTRONICS标准
避免了WINDOWS的分时特性给测试带来的影响,保证了测试仪的动态测试指标,测试信号更稳定更可靠；
1、 数字测试通道：48通道，支持驱动阈值电平5V；
2、 集成运放测试支持电源电压：≤±28V；
3、 总线隔离专用数字通道：8通道，用来隔离挂在总线上的三态器件，避免产生总线竞争，干扰测试；
4、 程控外供电源：+5V（自动控制、自保护功能）；
5、 电源电压及最大输出电流：5V/4A；
6、 后驱动电流：>200 mA;
7、 测试器件库:TTL54/74、CMOS40/45、RAM、EPROM、集成运放、模拟开关、电压比较器、光电耦合器、俄罗斯库、 门 子库；
8、 数字器件功能施加测试时间：<26 mS
9、 数字器件最大测试速度: 45KTV / S;
10、数字器件在线测试提取器件管脚状态:11种;
11、模拟测试通道：40通道，探棒2通道；
12、模拟信号扫描电压幅度：±1V~±28V, 步距0.5V可调;
13、VI分辨率：8~128点/周期(用示波器可测)；
14、输出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可选;
15、SA模拟特征分析测试坐标: 3种可选(VI /VT /VR);
16、模拟通道最大测试频率: 16KHZ;
17、ASA(VI)测试频率匹配:1HZ~16KHZ,共30档可选;
18、脉冲发生器脉冲幅度：±1V~±28V;
19、脉冲发生器发生方式: 8种
① P1方式：正的直流电平；
② P2方式：负的直流电平；
③ P1+方式：正脉冲，由0度开始，宽度为N×1/64π；
④ P1-方式：负脉冲，由π开始，宽度为N×1/64π；
⑤ P2+方式：正脉冲，结束于π，宽度为N×1/64π；
⑥ P2-方式：负脉冲，结束于2π，宽度为N×1/64π；
⑦ P1+与P1-方式：P1+与P1-方式的组合；
⑧ P2+与P2-方式：P2+与P2-方式的组合。
注：宽度中的N≤64，可设置
20、ASA(VI)曲线分析测试全过程测试时间(以128点/周期40管脚器件单端口扫描为例): <１S；
21、电路板网络测试通/断阈值：25Ω±5Ω
22、双通道数字存储示波器：模拟带宽20MHZ；
23、最大采样速率：60MHZ/CH；存储深度4000点/CH；
六、主要测试功能：
1、 程控电源输出：
提供+5V测试电源，程控加电，拥有自动保护功能，安全可靠，不用外接测试电源，使用方便；|
2、 机电式继电器输出控制：
采用安全可靠的机电式继电器，与光电式比较，接触电阻更小，约0.01~0.02Ω，其百万次量级的使用寿命，几百毫秒的动作时间足以满足实际应用要求。
3. 数字逻辑器件在线功能测试：
能够对5V数字逻辑器件进行在线功能测试；测试器件库庞大（仅逻辑数字器件就1 万多种）；测试范围广：TTL54/74、CMOS40/45、俄罗斯器件库、西门子器件库.
4．数字逻辑器件在线状态测试：
能够提取复杂的电路在线状态：11种，如开路、逻辑翻转信号、非法电平、总线竞争等等状态，所以，对测试器件外电路的识别能力强，低档测试仪一般只能识别2-3种 。此功能采用学习、比较的测试方式；
5． 动态总线竞争信号隔离功能：
用于解除总线竞争，确保正确测试挂在总线上的三态器件（如74LS373、74LS245、等），可提供8路总线竞争隔离信号；
6． IC型号识别：
针对标识不清或被擦除型号的器件，可“在线”或“离线”进行型号识别测试，测试结果打印出器件型号；对识别后的器件还可直接进行功能测试加以验证；
7． 器件“离线”功能测试；
所有库器件都可进行“离线”功能测试，如：5V数字逻辑器件、存储器、集成运放、光电耦合器等器件；
8． LSI大规模集成电路在线功能测试：
可对：Z80、8255、等器件进行功能测试；
9． LSI大规模集成电路在线状态分析测试；
可采取学习、比较的方式对一些常见的LSI器件进行状态分析测试；
10．SRAM / DRAM读写存储器在线测试；
直接检测存储器芯片的好坏，该测试无需事先学习，有独立的测试器件库，可采用在线、离线测试方式
11．EPROM在线直接读取/比较测试：
可采取在线（离线）学习/比较的测试方法，先把好板上EPROM中的程序读出来，保存到计算机上，再和坏板上的相同器件中的程序进行比较测试；测试结果定位到存储单元地址上，并打印出该地址正确和错误的代码。
12．器件循环测试功能：
该功能可对数字逻辑器件、存储器、集成运放、光耦等器件进行重复测试，直到出现错误或被终止，易于发现一些器件的非固定性故障（或称为软故障）；
13．测试夹自动定位功能：
该功能可以将测试夹以正、反方向，对齐或不对齐第一脚的方式夹在被测器件上而不影响测试结果，利于提高测试速度；
14．数字逻辑器件在线测试速度可选：
为了保证器件测试的准确性、降低误判率，满足不同器件对测试速度指标的不同要求，而设置了速度可选项；如：对负载能力弱的CMOS器件应选较低速度测试，一些集成度高、编程复杂的器件必须选择较高速度测试。
15．数字逻辑器件测试阈值可调功能：
阈值电平是指判定器件输出是逻缉１或逻辑０的门槛电平值。除了给出常用的几种电平值供直接选取外，还可选自定义。 阈值电平的选取要与被测器件的类型相一致；在逻辑器件测试时，有时会遇到用阈值电平紧测试不通过，而用阈值电平松就能通过的现象，一般是器件的部分参数发生了变化，如驱动能力下降；
16．加电延迟可选功能：
被测电路板上的电源、地之间有滤波电容。滤波电容越大，充电时间越长。该选择是确定在测试仪接通外供电源以后，需要等待多长时间后才开始进行测试。缺省为0.5秒；
17．测试夹接触检查功能：
该项功能主要解决当测试夹与被测器件接触不良时，造成的测试误判，如被测器件管脚氧化腐蚀、三防漆打磨不干净等；
18．瞬时复位电路控制功能：
当测试仪突然掉电，又突然上电的情况下，不会造成测试仪内部状态混乱而带来安全性问题；
19．集成运放在线功能测试（运放测试技术获国家发明专利）：
使用模拟信号测试运放在线性放大区的工作特性，有独立的测试器件库，包含LM324、LM348等共计3000多种，支持多种封装形式：如双列直插、圆形、表面贴等。与把运放作为数字器件测试相比较，此方法更科学，结果更准确。
20．集成运放在线状态测试：
采用学习、存储、比较的测试方式；
21．光电耦合器在线功能测试：
由于光耦是电流控制器件，采用电流激励信号测试，方法科学严谨，测试结果准确；低档测试仪采用电压激励信号测试，会导致测试结果的准确性不高。
22、有独立的光耦测试器件库，达500多种；
23．光电耦合器离线直流参数测试：
可在离线情况下对光耦的主要直流参数进行测试（如光电转换系数、输入开启电压、等），解决了由于器件的参数变化难以发现的故障现象，提高了故障检出率；
24．汇能自定义功能测试平台：
把测试仪的测试通道开放给用户，由用户对被测器件自行定义测试代码，可以进行功能测试，前提是用户需要对器件工作原理有一定的了解，或有被测器件的使用资料，适合有图纸资料情况下的开发工作；
25．电路板网络提取/比较测试；
使用模拟信号提取器件之间的连线关系，测试时无须加电，通/断阈值设置明确，测试完成后可以Protel网络表形式显示，适合反演电路图；
26．填表方式扩充集成运放测试器件库：
以填表的方式定义运放的各个管脚状态：如：同向输入、反向输入、输出、正电源、负电源、接地脚，以及其他状态等
27．以编程方式扩充数字器件库：
采用HNDDL语言（天惠电子自主开发的用于描述逻辑过程的专用语言，拥有自己的版权），自适应技术完善；把扩充程序直接开放给用户，由用户自己可以自行填加测试器件库；
28．ASA（VI）模拟特征分析测试：
通过对器件端口进行模拟特征分析测试方式（VI曲线学习/比较测试），可以发现器件端口型的故障（一般能占到维修当中的80%左右）适用于数字器件、模拟器件、模拟数字混合器件（如AD、DA等），对器件的封装形式也不受限制，可适应于对任何器件的测试；
29．ASA多种观察坐标显示：
有三种显示方式：VI/VT/VR，一般用VI坐标观察曲线，有人习惯上把ASA也叫成VI测试；
30．单端口、多端口（交叉）VI曲线分析测试：
对器件采取单端口或多端口的测试方式；单端口测试方式是指每个管脚对地提取一遍阻抗特性曲线，而多端口是以任一脚做参考提取一遍阻抗特性曲线；
31．ASA 曲线双探棒动态比较测试：
使用双路探棒对两块相同电路板上的相应节点时时的进行动态比较测试；当被测板上的器件不能使用测试夹测试时，此种方法最有效；
32、ASA 曲线测试智能提醒功能：
当使用双探棒进行比较测试时，如果不超差，仪器会出现报警声音，如果超差，则无报警提示，引起使用者注意，该测试方法利用微机喇叭产生类似于万用表Beep的效果，提高了检测效率，也大大降低了劳动强度；
33、ASA 测试曲线灵敏度可调：
当ASA曲线走势趋向于45度时，如果曲线的数据发生变化，曲线就变化明显，反映故障的观察灵敏度就越精确，曲线反映故障灵敏度与测试参数相关，适当调整测试参数能够得到更灵敏的曲线；该测试方法能够自动搜索出对故障较灵敏的那根曲线，有效的提高了故障检出率；
34、ASA 曲线扫描电压可调：（示波器可测）
VI扫描电压±1V~±28V, 步距0.5V可调。低档测试仪一般设定几档可选但不可调；
35、ASA 曲线测试频率可调：（示波器可测）
VI测试频率为1HZ-16KHZ,共30档可选。低档测试仪一般为设定不可调，或给不出频率指标;
36、ASA 曲线测试输出阻抗可选：
输出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ四档可选：
37、ASA 曲线快速诊断分析测试：
以40管脚VI曲线单端口测试为例，全过程测试时间< 1秒；如果进行40管脚多端口（交叉）扫描测试，128点/周期，全程程测试时间也在10秒之内；
38、可按管脚设置ASA 曲线测试参数：
可根据具体器件的测试需要，给不同管脚设置不同的测试参数，可设置任一管脚为提取或不提取ASA曲线；大大提高了测试的灵活性；
39、ASA 曲线故障快速定位/查找功能：
当VI测试出现故障曲线时，测试仪提供快速的曲线定位/查找功能选项，使用户观察曲线更方便、更快捷、更直观，测试效率更高；
40、三端器件测试功能：
完成对三端（含输入/输出）分立元件的动态测试功能，如三极管、可控硅、场效应管、继电器等器件测试：
41、三端器件测试时8种触发信号可选，以满足不同器件的控制触发要求：
具有一个与扫描信号同步的脉冲发生器，用于产生触发信号。触发信号的极性、相位、宽度均可调，满足正向、双向，交、直流等多种触发要求；
42、ASA 曲线多种排列/显示方式：
可按比较误差降序排列显示曲线，比较误差升序排列显示曲线，还可按器件管脚顺序排列曲线；可以“按点”或“画线”来显示曲线，单个管脚的曲线可以单独放大或缩小；
43、分立元件测试：
可单独对电路板上的分立元件直接进行VI曲线分析测试：如电阻、电容、电感等，也可以通过学习/比较的方式进行测试；
44、可测器件检索功能：
内置强大的搜索引擎，可以对器件库进行检索；检索后可列出器件型号、所在器件库、管脚数、封装和功能描述。
45、双通道数字存储示波器：
46、频谱分析功能：
47、元器件速查手册（电子词典）：
目前容量已达近四万种，并在不断地扩充中，供用户查阅元器件的名称、管脚排列、封装等信息；
48、元器件手册整理：
可以快速把身边的一些器件的资料整理到手册当中，使用起来会更方便；
49、数据库整理功能：
对IC状态库、LSI在线学习库、EPROM离线完全学习库、EPROM在线快速学习库、EPROM在线完全学习库、网络测试库进行整理、删除、更名等操作；
50、维修日记：
供记录日常维修的经验体会，发生的重要事情等，长期保存这些资料并积累经验，会大大提高维修水平和技能；
51、测试信息打印输出功能：
支持对各种测试界面下的打印；
52、后台操作记录管理：
测试仪会自动记录测试过程及测试结果等信息；
53、操作帮助指南：
给使用者提供正确的操作方法、步骤；
七、随机附件清单：
|
序号
|
名称 | 规格 | 厂家 | 数量 |
| 1 | DIP测试夹 | 8脚 | 美国3M | 2个 |
| 2 | DIP测试夹 | 14脚 | 美国3M | 2个 |
| 3 | DIP测试夹 | 16脚 | 美国3M | 2个 |
| 4 | DIP测试夹 | 20脚 | 美国3M | 2个 |
| 5 | DIP测试夹 | 28脚 | 美国3M | 1个 |
| 6 | DIP测试夹 | 40脚 | 美国3M | 1个 |
| 7 | SOIC测试夹 | 8脚 | 美国Pomona | 1个 |
| 8 | SOIC测试夹 | 14脚 | 美国Pomona | 1个 |
| 9 | SOIC测试夹 | 16脚 | 美国Pomona | 1个 |
| 10 | SOIC测试夹 | 20脚 | 美国Pomona | 1个 |
| 11 | SOIC测试夹 | 24脚 | 美国Pomona | 1个 |
| 12 | SOIC测试夹 | 28脚 | 美国Pomona | 1个 |
| 13 | GUARD电缆 | USB | 天惠 | 1付 |
| 14 | ICFT/VI测试电缆 | 40×1 | 天惠 | 1对 |
| 15 | ICFT/VI测试电缆 | 20×2 | 天惠 | 1对 |
| 16 | VI测试电缆 | 40×1 | 天惠 | 1条 |
| 17 | VI测试电缆 | 20×2 | 天惠 | 1条 |
| 18 | VI测试探棒 | 标准 | 1付 | |
| 19 | VI/三端 测试钩 | 3钩 | 天惠 | 2付 |
| 20 | 离线测试板 | 天惠 | 1块 | |
| 21 | 演示板 | 天惠 | 1块 | |
| 22 | 测试探针 | 天惠 | 2付 | |
| 23 | 220V电源线 | 标准 | 1条 | |
| 24 | 测试电源线 | 2芯 | 天惠 | 1付 |
| 25 | 在线测试电源线 | 3芯 | 天惠 | 1付 |
| 26 | 离线测试电源线 | 3芯 | 天惠 | 1付 |
| 27 | 电源线、地线 | 天惠 | 2对 | |
| 28 | 产品合格证 | 天惠 | 1份 | |
| 29 | 产品保修卡 | 天惠 | 1份 | |
| 30 | 《汇能测试仪使用说明书》 | 天惠 | 1套 | |
| 31 | 《学习与实践》 | 天惠 | 1本
|
