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频率特性测试仪基于DSP的设计思路

2012-02-13

  传统扫频仪的信号源大多采用LC电路构成的振荡器,大量使用分立元器件来实现各功能,显示部分采用传统的扫描显示器。因此传统结构的扫频仪不仅结构复杂、体积庞大、价格昂贵、操作复杂,而且由于各元件分散性大,参数变化容易受外部环境变化影响,精度不高。基于直接数字频率合成技术的思想,采用现代数字信号处理和显示技术,设计了一台低成本、数字化、智能化的频率特性测试仪。实现了对20 Hz~150 MHz范围内任意频段的被测网络幅频特性和相频特性测量。完成了数据存储、-3曲带宽计算、峰值查找等功能,幅度检测精度达到1dBm,相位检测精度1°等指标。
  目前,以Agilent等为代表的仪器生产厂家提供了多种高性能的频率特性测试仪。但其产品主要集中在射频、微波等高频领域,中低频段的产品相对缺乏。本文基于直接数字频率合成(DDS)的技术思想,采用DSP和FPGA架构的现代数字信号处理技术,设计了一台低成本,高度数字化和智能化的频率特性测试仪,实现了对20 Hz~150 MHz范围内任意频段的被测网络幅频特性和相频特性测量和显示,完成了数据存储回放和传输,-3 dB带宽计算,峰值查找等功能。幅度检测精度达到1dBm,相位检测精度1°的指标。

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