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仪器中文名称:扫描电镜 仪器所在城市及单位:北京市 清华大学 仪器型号规格:JSM7401 生产厂商:日本电子公司 国别:日本 购买日期： 使用日期(年): 认证情况:已进行计量认证 主要技术指标: 主要附件及功能: 仪器负责人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncswnet 检
2011-12-28
仪器中文名称:热场发射扫描电镜 仪器所在城市及单位:北京市 清华大学 仪器型号规格: 生产厂商:德国LEO公司 国别:德国 购买日期： 使用日期(年): 认证情况:已进行计量认证 主要技术指标: 分辨率20kv 1nm 1kv 3nm热场发射灯丝 主要附件及功能: 仪器负责人: 肖
仪器中文名称:场发射扫描电子显微镜 仪器所在城市及单位:北京市 清华大学 仪器型号规格: 生产厂商:日本电子株式会社 国别:日本 购买日期： 使用日期(年): 认证情况:已进行计量认证 主要技术指标: 30万倍 分辨率1.5埃 主要附件及功能: 仪器负责人: 肖先生 E-m
仪器中文名称:扫描电镜 仪器所在城市及单位:北京市 清华大学 仪器型号规格:TESCAN SEM VEGA TS 5136XM 生产厂商:捷克 TESCAN 国别:捷克 购买日期： 使用日期(年): 认证情况:已进行计量认证 主要技术指标: 主要附件及功能: 仪器负责人: 肖先生 E-mail: shawn.
仪器中文名称:超高分辨扫描电镜 仪器所在城市及单位:北京市 清华大学 仪器型号规格: 生产厂商:荷兰FEI公司 国别:荷兰 购买日期： 使用日期(年): 认证情况:已进行计量认证 主要技术指标: 分辨率10kv,1.5nm/1kv,2.5nm；加速电压200v-20kv 主要附件及功能: 仪器
仪器中文名称:场发射扫描电子显微镜 仪器所在城市及单位:北京市 清华大学 仪器型号规格:JSM-6301F 生产厂商:日本电子 国别:日本 购买日期： 使用日期(年): 认证情况:已进行计量认证 主要技术指标: 主要附件及功能: 仪器负责人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hn
仪器中文名称:扫描电镜及取向分析系统 仪器所在城市及单位:北京市 北京科技大学 仪器型号规格:LEO-1450 生产厂商:英国、美国、丹麦 国别:英国、美国、丹麦 购买日期： 使用日期(年): 认证情况:已进行计量认证 主要技术指标: 主要附件及功能:微观晶体取向及结
仪器中文名称:超高真空扫描电子显微镜(SEM)扫描隧道显微镜(STM) 仪器所在城市及单位:北京市 北京大学 仪器型号规格: 生产厂商:中国北京科仪+自制+法国RIBER 国别: 购买日期： 使用日期(年): 认证情况:已进行计量认证 主要技术指标: 主要附件及功能:超高真空
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