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仪器中文名称：近场扫描光学显微镜 仪器所在城市:北京市 所在单位:中国科学院物理研究所 仪器型号规格:NS-M100 生产厂商: 国别: 购买日期： 使用日期(年):2000-09-05 认证情况： 主要技术指标: 主要附件及功能: 科研用 仪器负责人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncswn
2012-01-05
仪器中文名称：极低温双探针扫描隧道显微镜 仪器所在城市:北京市 所在单位:中国科学院物理研究所 仪器型号规格:自制 生产厂商: 国别: 购买日期： 使用日期(年):2003-06-03 认证情况： 主要技术指标: 主要附件及功能: 科研用 仪器负责人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@h
仪器中文名称：超高分辨率扫描电镜 仪器所在城市:北京市 所在单位:中国科学院物理研究所 仪器型号规格:S-5200日立 生产厂商:日本日立公司 国别:日本 购买日期： 使用日期(年):2003-07-28 认证情况： 主要技术指标: 主要附件及功能: 科研用 仪器负责人: 肖先生 E-mail
仪器中文名称：场发射扫描电镜 仪器所在城市:北京市 所在单位:中国科学院物理研究所 仪器型号规格:XL-30 S-FEG 生产厂商:荷兰 国别:荷兰 购买日期： 使用日期(年):2004-01-07 认证情况： 主要技术指标: 主要附件及功能: 仪器负责人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncsw
仪器中文名称：场发射高分辨电子显微镜 仪器所在城市:北京市 所在单位:清华大学 仪器型号规格:JZM-2010F 生产厂商: 国别: 购买日期： 使用日期(年):2005-08-06 认证情况： 主要技术指标: 主要附件及功能: 科研用 仪器负责人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@hncswnet 检
仪器中文名称：场发射扫描电子显微镜 仪器所在城市:北京市 所在单位:中国科学院物理研究所 仪器型号规格:Quanta 200 FEG 生产厂商:日本日立公司 国别:日本 购买日期： 使用日期(年):1994-05-01 认证情况： 主要技术指标: 主要附件及功能: 仪器负责人: 肖先生 E-mail:
仪器中文名称：环境扫描电子显微镜 仪器所在城市:北京市 所在单位:中国科学院微生物研究所 仪器型号规格:Quanta 200 生产厂商: 国别： 购买日期： 使用日期(年):2003-04-16 认证情况： 主要技术指标: 主要附件及功能: 科研用 仪器负责人: 肖先生 E-mail: shawn.xiao@
仪器中文名称：扫描电子显微镜 仪器所在城市:北京市 所在单位:中国科学院力学研究所 仪器型号规格:SIRION 400NC 生产厂商:荷兰 国别:荷兰 购买日期： 使用日期(年):2004-04-08 认证情况： 主要技术指标: 主要附件及功能: 科研用 仪器负责人: 肖先生 E-mail: shawn.xi
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