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仪器中文名称: X射线荧光光谱仪
仪器所在城市: 长沙市
仪器型号规格: PW2440
生产厂商: 荷兰飞利浦
国别: 荷兰
购置日期(年): 2003-6-1
使用日期(年): 2003-7-1
主要技术指标: 检出限：0.0003%（Cr） 示值误差：4.3*10-6 测量重复性：0.005% 综合稳定性：（0.04%-0.05%） 特别快的分析速度 ：2秒钟一个元素
主要附件及功能: 地质样品定量 定性分析
本单位该仪器主要应用领域：地质矿产
仪器负责人: 肖燕
电话: 18975134808
E-mail: accexp@gmail.com
检测项目： 地质样品定量 定性分析
收费标准： 面议