光电元器件的频域和时域参数测试解决方案
2025-02-10
罗德与施瓦茨在光电元器件领域长期探索及积累，推出的频域参数测试方案和时域参数测试方案，能够帮助用户快速可靠地测量这些光电元器件的频域和时域参数，助力用户实现高效率高质量的研发和生产。
一、频域参数测试应用场景
1、E/E器件测量：
仅使用矢量网络分析仪即可实现E/E器件测量。E/E器件的测量重点主要是传输带宽、插入损耗或增益、阻抗匹配和群延时。
2、O/O器件测量：
在测试光电器件之前，通常在射频同轴电缆或探头的末端对矢量网络进行校准。通常对传输系统的带宽和群时延进行测试。可测试无源光器件的插入损耗、分散效应引起的带宽限制，以及光群时延。除了基本的矢量网络电口校准外，O/O器件测试还需要一步式光纤校准。经校准的E/O和O/E器件与光纤连接。经归一化校准，可以消除整个系统的误差。
3、E/O器件测量:
EOM、DML或TOSA是最为常见的E/O器件。双驱动光调制器可用4端口矢量网络分析仪（如R&S®ZNA）进行表征。
二、频域参数测试方案
GOCA系列通用光电元器件分析仪由专用光电底座和R&SZNA、ZNB等系列矢量网络分析仪协同构成，不仅可实现电器件参数分析，还可实现用户对于直调激光器、电光调制器、光电探测器、光微环、光栅等光电芯片、器件和模块的测量，支持S参数、截止频率、差分/共模参数、延时参数、交调/互调参数、噪声系数等关键数据的获取，适用于光电元器件研发、生产和应用的整个周期链。
1、测试系统方案构成：
ZNA67微波矢量网络分析仪
GOCA-67光电底座
2、方案优势：
覆盖电-光、光-电、光-光、三种光学器件性能参数测试
测量频率最高可达110GHz
测量波长覆盖1550nm / 1310nm / 850nm
三、示波器光器件时域测试解决方案
R&S联合Newport科技推出光器件测试解决方案，可帮助用户快速的测试光电元器件的时域参数。Newport光电探测器和RTO6、RTP等系列示波器协同工作，集成光电元器件时域参数的测量功能。实现了激光元器件的参数分析，还支持光电信号分析，可用于光电元器件的研发、生产和应用。
RTO6示波器系列提供出色信号，助您了解应用情况。这款全集成式测试解决方案兼具15.6"大触摸屏、全新图形用户界面、一流的波形捕获率、卓越的信号保真度、数字触发和快速响应的深存储，可用于频率、协议和逻辑分析。RTO6示波器系列具有丰富的测量工具和新型用户界面，能够快速解决各种简单或复杂的电路问题。
1、产品亮点：
最大 6GHz带宽
每秒一百万波形
9.4ENOB,确保非凡的信号完整性
最大2Gpoints 存储深度
独树一帜的频率区域触发
RTP高性能示波器将优异的信号完整性与波形捕获率相结合。它结构紧凑，内部集成定制化的前端ASIC和实时处理硬件，能够以全新的速度执行准确测量。
1、产品亮点：
波形捕获率高达 750,000波形/秒，可快速查找故障
高精度数字触发，无带宽限制
实时去嵌，用于触发和快速波形捕获
紧凑设计，静音运行，适用于任何实验室环境
+/-0.25dB平坦频率响应，实现准确测量
艾克赛普公司是罗德与施瓦茨（R&S）湖南授权代理商，如果您对光电器件测试有需求或任何疑问，欢迎联系我们，将提供免费样机上门试用和定制测试解决方案。
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