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肖特基势垒特性及杂质测量实验系统综合测试实训平台

2023-10-25

适用课程

1.半导体器件原理

2.固体物理基础

3.半导体材料基础

4.电子薄膜材料与器件


实验目的

1.掌握肖特基二极管的结构

2.掌握肖特基势垒结的形成原理

3.掌握肖特基二极管的整流特性和势垒电容

4.学会测量肖特基二极管的C-V特性


测量仪器设备

1.TH511E半导体器件CV特性分析仪

2.TH1992B精密源/测量单元

3.TH26011D直流偏置夹具

4.半导体元件实验盒

5.学会计算杂质浓度


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