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Accexp透明网片的厚度测量解决方案

时间:2015-08-14 16:02
摘要:Accexp薄膜涂层厚度的高精度测量解决方案可以使用纳米分辨率,而且可以在不接触目标的情况下测量厚度。Accexp薄膜涂层厚度的高精度测量解决方案的特点就是精度高,可以测量5um厚度,而且可以测量多层薄膜。 Accexp薄膜涂层厚度的高精度测量解决方案由长沙艾克赛普仪
      Accexp透明网片的厚度测量解决方案可以使用纳米分辨率,而且可以在不接触目标的情况下测量厚度。Accexp透明网片的厚度测量解决方案的特点就是精度高,可以测量5um厚度,而且可以测量多层薄膜。
      Accexp透明网片的厚度测量解决方案由长沙艾克赛普仪器设备有限公司提供,以下是Accexp透明网片的厚度测量解决方案的产品详细信息。如果您有任何疑问或者相关需求,可以联系0731-84284278转801,邮箱:shawn.xiao@hncsw.net。长沙艾克赛普仪器设备有限公司可以根据您的需求定制整套解决方案。
Accexp薄膜涂层厚度的高精度测量解决方案 图片

 
  • SI-F 系列 - 微型传感头型分光干涉式 激光位移计

    隆重推出业界超细微型传感头,其拥有同类产品中最高的测量精度,并实现了过去认为不可能实现的性能。

     
  • SI-F80R 系列 - 分光干涉式晶片厚度计

    采用近红外 SLD,即使已贴附 BG 带也可测量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于图案而产生的显著差异,也可实现准确的生产线上测量。


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