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中茂 Chroma 自动光学检测解决方案

时间:2015-08-13 08:47
摘要:中茂 Chroma 自动光学检测解决方案是结合机器视觉、光源系统与精密运动控制平台的检测设备,具有非接触、量测速度快、与检测标准一致等优势。中茂 Chroma 自动光学检测解决方案依技术可区分为两个应用范围:二维瑕疵检测方案与三维形貌量测方案。长沙艾克赛普仪器设
      中茂 Chroma 自动光学检测解决方案是结合机器视觉、光源系统与精密运动控制平台的检测设备,具有非接触、量测速度快、与检测标准一致等优势。中茂 Chroma 自动光学检测解决方案依技术可区分为两个应用范围:二维瑕疵检测方案与三维形貌量测方案。长沙艾克赛普仪器设备有限公司是中茂 Chroma 在华中地区授权代理商,可提供样机和相关工程师上门演示沟通,以下是长沙艾克赛普仪器设备有限公司为您介绍中茂 Chroma 自动光学检测解决方案系列产品的详细介绍,如果您有任何问题或者需要相关资料,请随时联系:0731-84284278转801,邮箱:shawn.xiao@hncsw.net。
3D纳米显微仪
  • Model 7505-01 多功能光学检测系统
  • 7505-01多功能光学检测系统,适合于微奈米及大范围量测的应用。
  • 一机具备1D、2D、3D量测能力
  • 具备膜后量测功能(1D),使用穿透反射式量测,可进行非破坏式膜厚量测
  • 使用高解析度线型扫瞄相机,可进行2D瑕疵量测,可检出气泡、刮伤、异物等瑕疵
  • 使用白光干涉量测技术,可进行3D三维形貌量测
  • Model 7505-02 线上型自动化光学检测系统
  • 本线上型自动化光学检测系统7505-02,主要运用高速相机对ITO (Indium Tin Oxide)薄膜丶RFID丶FPC等连续式(Roll to Roll)制程进行影像拍摄,是以PC-based为架构的线扫描(Line-scan)影像检测系统。
  • 适用于ITO (Indium Tin Oxide)薄膜丶RFID丶FPC等连续式(Roll to Roll)制程线上即时自动光学检测
  • 配备高解析度线型扫描相机,可检出气泡及刮伤等脏污及瑕疵
  • 使用多支相机同时进行取像,检测速度快
  • 配备位置控制和反馈系统,可得到精确及清晰的扫描图像
  • Model 7503 三维光学轮廓仪
  • 三维光学轮廓仪乃利用扫描白光干涉技术所发展之次奈米三维光学轮廓量测仪,透过精密的扫描系统以及创新演算法进行微奈米结构物表面轮廓的量测与分析。并可依据需求搭配彩色或单色相机进行2D量测,使系统亦具备工具显微镜量测功能,达到一机多用途的目的。
  • 阶高量测解析度可达0.1 nm
  • 使用白光干涉量测技术,非破坏性、快速表面形貌量测与分析
  • 模组化设计可依量测需求及预算考量进行各部件选配
  • 可搭配彩色或单色相机进行2D量测,使系统亦具备工具显微镜量测功能
光伏自动光学检测系统
  • Model 7200 series 光伏电池片与硅片自动化检测系统
  • Chroma 7200系列就是为了可以检测所有产线上生产的硅晶圆以及电池片的瑕疵所设计的。
  • Model 7201 光伏硅片外观暨表面脏污检测机
  • 光伏硅片外观暨表面脏污检测
  • RGB LED光源频闪式设计
  • 高速检测
  • Model 7202 光伏硅片品质检测机
  • 硅片品质检测
  • 精准计算类单晶晶格比例
  • 孔洞与缺角检测
  • Model 7211-D 光伏电池片颜色分选机
  • 光伏电池片颜色分选
  • 最接近人眼视觉效果的CIELAB色彩空间检测原理
  • 无上限的分色类别设定
  • Model 7212-HS 光伏电池片正面印刷暨表面脏污检测机
  • 光伏电池片正面印刷暨表面脏污检测
  • 可检测到最细微36um/pixel的网印Finger线
  • 可安装于前端网版印刷制程或者后端出货分类制程
  • Model 7213-AD 光伏电池片背面印刷暨表面脏污检测机
  • 光伏电池片背面印刷暨表面脏污检测
  • V型缺角以及剥落类型的瑕疵检测
  • 可安装于前端网版印刷制程或者后端出货分类制程
  • Model 7214-D 光伏电池片抗反射层镀膜检测机
  • 抗反射层镀膜检测
  • 瑕疵与镀膜不均匀的检测
  • 可安装于前端PECVD制程之后或者安装于网版印刷制程之前
  • Model 7231 光伏硅片线锯痕检测机
  • 光伏硅片线锯痕检测
  • 符合EN-50513 2009的检测手法
  • 高度可靠的检测结果
自动光学检测系统
  • Model 7936 双面晶圆检测系统
  • It can do double side inspection simultaneously
  • Maximum 8 inch wafer handling capability(10 inch inspection area)
  • Model 7935 晶圆检测系统
  • 应用于8吋以下晶粒外观检查。
  • 最大可检测8”晶圆 (检测区域达10“范围 )
  • 适合LED, 雷射二极体及影像感测器等产业
  • 影像辨识成功率高达98%
  • 可结合上游测试机晶粒资料,合并后上传至下一道制程设备
影像传感器检测系统
  • Model 7970 影像传感器检测系统
  • Chroma 7970 影像感测器检测系统为一自动化载盘式外观检测系统,可检测影像感测器正反两面外观瑕疵。
  • 提供完整的影像感测器玻璃面与锡球面外观检测功能
  • 可大幅降低处理时间之定速连续取像功能
  • 已申请专利的多吸嘴吸取功能可增加整体检测速度
  • 先进的光源系统可适用于不同的瑕疵类型
液晶/显示器自动光学检测系统
  • Model 7310 实体影像显微检视仪
  • 以高解析度彩色CCD 摄影机为基础的显微影像检视系统,其可透过彩色电视机、电脑萤幕或视讯投影机等各式显示器来观察细小的物体。
  • 操作简便。
  • 检测画面停格功能
  • 影像画面比对功能
  • 多种导光罩设计以便利观测使用所需
  • 用途广泛
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